[发明专利]一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法与装置在审
申请号: | 201510729151.5 | 申请日: | 2015-10-30 |
公开(公告)号: | CN105426302A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 王丹;彭亮;钱杰;阳徽 | 申请(专利权)人: | 北京航天自动控制研究所 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人: | 张璐;黄启行 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 tcl 脚本 构建 plc 外围设备 等效 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及PLC(可编程逻辑控制器)软件测试领域,尤其涉及一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法与装置。
背景技术
现有技术中,针对PLC进行测试时缺少成熟的测试方法和测试工具。在基于真实外围环境对PLC进行测试的过程中,常常采用单元测试仪或系统联调试验或系统综合试验。但是,由于测试过程所需的信号和激励均来源于真实的外围设备,导致测试环境复杂、测试效率低、测试覆盖率差、缺少故障注入方式。
为解决基于真实外围环境对PLC进行测试时存在的各种问题,亟需设计一种PLC外围设备等效器,用于模拟真实外围环境对PLC发出各种激励、信号,进而提高测试效率,提高测试覆盖率以及易于注入故障。
发明内容
本发明提供了一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法与装置,代替PLC的真实外围环境,便于故障注入,简化测试过程,提高测试覆盖率和测试效率。
根据本发明的一个方面,提供了一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法,所述方法包括:
根据待测PLC的测试任务,从预先设置于上位机系统的PLC测试脚本库中选取与所述测试任务对应的PLC控制指令;基于所述PLC控制指令及TCL内建指令构建测试用例;并将所述测试用例下发到下位机系统;
S2、下位机系统根据所述测试用例产生激励信号,并将所述激励信号发送给待测PLC;
S3、基于所述激励信号对待测PLC进行测试;
其中,所述PLC测试脚本库包括PLC控制指令扩展库、TCL内建脚本库;所述PLC控制指令扩展库中包括:初始化扩展库命令、注册扩展命令、写单/多通道数字量命令、读单/多通道数字量命令、写单/多通道模拟量命令、读单/多通道模拟量命令、采样计数器命令、读离散输入命令、读写线圈命令、读写寄存器命令。
优选的,所述上位机系统还包括数据库、通信协议封装库;
所述PLC控制指令扩展库将所述通信协议封装库的接口、所述数据库的接口、所述TCL内建脚本库的接口集成在一起。
优选的,所述PLC控制指令扩展库包括N个PLC扩展指令集,N≥2,并且N为整数;所述PLC扩展指令集具体为:至少一种PLC通信协议扩展指令集、通用IO操作扩展指令集。
优选的,步骤S2具体为,下位机系统接收所述测试用例,并根据所述测试用例包含的命令码、数据参数产生驱动信号,驱动相应的PXI机箱板卡产生激励信号,并将所述激励信号发送至待测PLC。
优选的,所述PLC的通信协议扩展指令集为Modbus协议扩展指令集,和/或,FINS协议扩展指令集,和/或,OPC协议扩展指令。
根据本发明的另一个方面,提供了一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的装置,其特征在于,所述装置包括:上位机系统、下位机系统、待测PLC;其中,上位机系统包括PLC测试脚本库;
上位机系统,用于根据待测PLC的测试任务,从PLC测试脚本库中选取与所述测试任务对应的PLC控制指令;基于所述PLC控制指令以及TCL内建指令构建测试用例;并将所述测试用例下发到下位机系统;
下位机系统,用于根据所述测试用例产生激励信号,并将所述激励信号发送给待测PLC;
待测PLC,用于接收所述激励信号并在内部执行,并将执行结果反馈给上位机系统;
所述PLC测试脚本库包括PLC控制指令扩展库、TCL内建脚本库;
所述PLC控制指令扩展库中包括:初始化扩展库命令、注册扩展命令、写单/多通道数字量命令、读单/多通道数字量命令、写单/多通道模拟量命令、读单/多通道模拟量命令、采样计数器命令、读离散输入命令、读写线圈命令、读写寄存器命令。
优选的,所述上位机系统还包括数据库、通信协议封装库;所述PLC控制指令扩展库将所述通信协议封装库的接口、所述数据库的接口、所述TCL内建脚本库的接口集成在一起。
优选的,所述上位机系统中的PLC控制指令扩展库包括N个PLC扩展指令集,N≥2,并且N为整数;所述PLC扩展指令集具体为:至少一种PLC通信协议扩展指令集、通用IO操作扩展指令集。
优选的,所述下位机系统包括实时控制模块、PXI机箱板卡;
实时控制模块,接收所述测试用例,并根据所述测试用例包含的命令码、数据参数产生驱动信号,并将所述驱动信号发送至PXI机箱板卡;
PXI机箱板卡,根据接收的驱动信号产生激励信号,并将所述激励信号发送至待测PLC。
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