[发明专利]一种防呆测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示器应用领域，尤其涉及一种防呆测试装置。

背景技术

在液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)市场中，LCD不可避免的会出现一些故障，例如黑屏问题。而在研究黑屏问题的过程中，可以发现，线路烧伤问题是导致黑屏的一个重要原因，且这个原因在LCD整体故障中可以占到10％的概率。进一步的观察线路烧伤实际状态时，可以确定出现该故障的原因是电气过应力(Electrical Over Stress，简称EOS)事件。EOS就是施加在LCD上的电流超过规定的最大电流。任何一次EOS事件都可能导致LCD的损坏。这种损坏可以表现为LCD立即失效，也可能在发生EOS事件许久后才失效，通常来说，导致发生EOS事件的情况可以包括静电放电(Electrostatic Discharge，简称ESD)、过驱动以及瞬态电流等。

EOS事件的发生主要是在LCD的热插拔过程，而LCD本身不具有热插拔的能力，在LCD工作过程中进行热插拔，会导致EOS的事件发生。

如图1所示，LCD正常工作时的LED+引脚掉电电压以及进行热插拔时的LED+引脚掉电电压变化比对波形图，由图1中可以看出，在热插拔过程中，瞬间将LED+引脚的电压提升为原来的2倍左右，并且在一段时间内保持高压，如果此时LCD中的其他引脚与LED+引脚接触，则可能会出现短路、过电压等。

而在现有技术中，暂时还没有能够防止热插拔的防呆测试装置(“防呆”，是一种专业术语，该词来源于日本(日语：ポカヨケ)，是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直觉无误完成正确的操作)，因此，LCD由于热 插拔而造成损害的问题一直都亟待解决。

发明内容

本发明实施例提供了一种防呆测试装置，通过在测试装置中增加屏蔽装置，以防止测试装置在检测显示器件期间，对显示器件与该测试装置之间的连接器进行热插拔操作，从而避免LCD的损坏。

第一方面，本发明提供了一种防呆测试装置，包括：

壳体；

凹槽，位于壳体上；

屏蔽装置，安装在壳体上，用于形成屏蔽区域；

连接器接口，位于屏蔽区域内；

其中，待检测器件放置于凹槽中，并通过连接器与连接器接口连接。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，屏蔽装置包括屏蔽罩，屏蔽罩具有固定器件、旋转轴和罩体；

固定器件安装在壳体上；

罩体通过旋转轴与固定器件转动连接。

结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，装置还包括第一开关，第一开关用于控制屏蔽罩的打开或关闭。

结合第一方面，在第一方面的第三种可能的实现方式中，屏蔽装置包括红外线传感器，红外线传感器具有发射端和接收端组成；

红外线传感器用于发射红外线，形成屏蔽区域。

结合第一方面，在第一方面的第四种可能的实现方式中，待检测器件为显示器件。

结合第一方面至第一方面的第四种可能的实现方式中的任一项，在第一方面的第五种可能的实现方式中，装置还包括第二开关，第二开关用于控制防呆测试装置的启动或者停止。

结合第一方面的第五种可能的实现方式，在第一方面的第六种可能的实 现方式中，第一开关和所述第二开关为一个开关。

本发明实施例提供的防呆测试装置，由于在壳体上安装屏蔽装置，形成了屏蔽区域，从而可以防止测试装置在检测显示器件期间，对显示器件与该测试装置之间的连接器进行热插拔操作，避免了LCD的损坏。

附图说明

图1为LCD正常工作时的LED+引脚掉电电压以及进行热插拔时的LED+引脚掉电电压变化比对波形图；

图2为本发明实施例提供的一种防呆测试装置的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种防呆测试装置的平面结构示意图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。