[发明专利]一种服装穿着平整度的测试及评价方法在审
申请号: | 201510710539.0 | 申请日: | 2015-10-27 |
公开(公告)号: | CN105243671A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 刘成霞;韩永华 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 服装 穿着 平整 测试 评价 方法 | ||
1.一种服装穿着平整度的测试及评价方法,其特征在于:该方法的具体步骤如下:
步骤1.选择不同平整度的若干待测面料,熨烫平整后,按照统一的样板、裁剪及缝纫条件,进行裁剪、缝制,制作成试穿服装,并熨烫平整使表面平挺、没有折痕;所述的试穿服装由上装和裤子组成;步骤1由同一人员完成;
步骤2.选择一名身材、尺寸合适的试穿者,由该试穿者对制作好的试穿服装进行实际穿着,并按规律做日常生活中经常发生的动作;
步骤3.完成规定动作后,试穿者站在室内,用调整好最佳拍摄参数的相机,分别采集试穿服装上的左右肘部、左右膝盖、左右大腿根部及其他折皱严重部位的图像;
步骤4.将各采集部位的折皱图像输入计算机,裁剪成同样的尺寸,利用图像处理软件对其进行小波阈值去噪处理;
步骤5.小波阈值去噪处理后的图像,按照如下步骤进行平整度系数Is的提取:
(1)在全幅图像中大小为2k×2k正方形区域的活动窗口内,计算每个像素点的亮度均值Ak(x,y):
其中,(x,y)用来标定所选正方形区域在全幅图像中的具体位置;g(i,j)代表所选正方形区域中(i,j)点对应的像素点亮度值;k决定了像素范围:k=0,1,…,floor(log2(max(h,w));其中,floor为取整函数,log为求对数函数,max为求最大数函数,h为所选正方形区域的像素点行数,w为所选正方形区域的像素点列数;
(2)分别计算全幅图像中每个像素在水平方向、垂直方向和斜向上互不重叠的窗口之间的亮度均值差:
对每个像素,不论方向,取Ek,h(x,y),Ek,v(x,y)和Ek,d(x,y)三者中最大的值所对应的k值按照下式来设置最佳尺寸:Sbest(i,j)=2k;
(3)计算整幅图像中最佳尺寸Sbest的平均值,进而计算该折皱图像的平整度系数Is,如下所示:
其中,m和n分别为折皱图像的长和宽;
步骤6.分别计算左右肘部、左右膝盖及左右大腿根部折皱图像的Is,并求出左右肘部的Is平均值左右膝盖的Is平均值左右大腿根部的Is平均值然后计算其他折皱严重部位折皱图像的平整度系数
步骤7.计算每种待测面料制成的整套试穿服装的综合平整度系数Is总,计算公式如下:
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