[发明专利]基于过采样技术的高精度倾角测量仪

权利要求书

1.基于过采样技术的高精度倾角测量仪，其特征在于：包括FXLN8361微加速度计和MSP430F5529控制器，FXLN8361微加速度计通过调理电路将采集信号送入MSP430F5529控制器进行转换，MSP430F5529控制器采用过采样算法以及双轴倾角计算将采集信号的转换结果传输给显示单元进行显示,使测量的最小角度达到0.05°，所述的调理电路采用AD623放大器构成；

FXLN8361微加速度计输出的信号V_+IN进入AD623放大器之后，为了使MSP430F5529控制器的芯片ADC的参考电压1.5V匹配，经过内部的差分运算电路减掉2脚的0.75V的0g偏置电压后再放大，电阻R1的两端分别连接到AD623放大器的1脚与8脚用于调节放大倍数，将放大后的信号再经过平移，加上5脚的参考电压，最后的输出计算公式为：

V_out＝(V_+IN-V_-IN)G+V_REF (12)

其中放大倍数±1g变化时的输出电压0.22V放大3倍，使得满量程输出的电压与芯片ADC的参考电压1.5V匹配，其中，V_out为输出电压，V_REF为参考电压值，R1为增益调整电阻，V_-IN为2脚的0.75V的0g偏置电压，0g偏置电压为FXLN8361微加速度计静态0g时的输出电压。