[发明专利]一种数字化驱动的IGBT电流检测系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201510705435.0 申请日: 2015-10-27
公开(公告)号: CN106610445B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 白建成;客金坤;贺之渊;魏晓光;张升;高阳;杨兵建;周万迪;陈龙龙 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 102209 北京市昌平*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 数字化 驱动 igbt 电流 检测 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种数字化驱动的IGBT电流检测方法,其特征在于:包括主控制模块;所述主控制模块包括可编程逻辑模块和控制模块;

所述可编程逻辑模块用于IGBT模块的故障检测、故障保护、多段式驱动逻辑及信息回报;

所述控制模块用于完成IGBT导通电流和IGBT模块结温的检测,并将导通电流和结温检测的计算结果通过高速总线传输给所述可编程逻辑模块;

所述的一种数字化驱动的IGBT电流检测系统的检测方法,包括:

获取IGBT模块散热片的温度Theatsink模拟量信息;

获取IGBT模块导通压降Vce模拟量信息;

将所述模拟量信息转换为数字量信息;

根据导通压降Vce数字量信息和温度Theatsink数字量信息检测所述IGBT模块的导通电流和IGBT模块的结温并将所述导通电流和结温检测的计算结果通过高速总线传输给所述可编程编辑模块;

所述导通电流和结温检测的计算过程包括:

将采集到IGBT的散热片温度Theatsink,叠加一个较小ΔT,作为假设的IGBT结温Tj;利用所述Tj和采集的Vce电压,分别计算出IGBT的导通损耗Pcond和开关损耗Psw;所述导通损耗Pcond和开关损耗Psw的求和为当前假设结温下的总损耗Ptot1;利用所述结温Tj和IGBT模块的热阻反求出IGBT总损耗Ptot2;将Ptot1与Ptot2相比较,如果两者数值差距较大,继续增大ΔT,直到Ptot1和Ptot2的计算结果接近,此时的ΔT为所求的IGBT模块芯片到散热片的温差,再结合所述采集的Vce电压,求得IGBT的导通电流。

2.如权利要求1所述的一种数字化驱动的IGBT电流检测方法,其特征在于:所述可编程逻辑模块包括故障检测模块、保护逻辑模块、驱动逻辑模块、门极驱动阵列模块和传输模块;所述故障检测模块用于完成IGBT模块的故障检测;所述保护逻辑模块对处于故障的所述IGBT模块进行保护;所述驱动逻辑模块用于驱动IGBT模块;所述门极驱动阵列模块实现IGBT的多段式开通关断;所述传输模块用于将所述IGBT模块的导通电流,结温和工作状态反馈至上位控制模块。

3.如权利要求1所述的一种数字化驱动的IGBT电流检测方法,其特征在于:所述控制模块包括电压检测模块、温度检测模块和电流检测模块;

所述电压检测模块用于获取IGBT模块的导通压降Vce信息;所述温度检测模块获取IGBT模块散热片的温度信息;

所述电流检测模块用于获取所述温度信息和导通压降Vce信息;

所述控制模块用于计算IGBT模块流过的电流和所述结温并将所述电流和结温传送至所述可编程逻辑模块。

4.如权利要求3所述的一种数字化驱动的IGBT电流检测方法,其特征在于:所述主控制模块还包括模数转换模块、电压采集模块和温度采集模块,用于将IGBT模块散热片的温度的模拟量以及IGBT模块的导通压降Vce的模拟量转换为数字量信息,将转换结果发送给所述控制模块;所述电压采集模块用于采集所述IGBT模块的导通压降Vce的模拟量;所述温度采集模块用于采集所述IGBT模块散热片的温度的模拟量。

5.如权利要求1所述的一种数字化驱动的IGBT电流检测方法,其特征在于:所述可编程逻辑模块为现场可编程门阵列FPGA;所述控制模块为微控制器。

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