[发明专利]测试方法和装置在审

专利信息
申请号: 201510690301.6 申请日: 2015-10-22
公开(公告)号: CN106610891A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 郭学彬 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心11010 代理人: 罗丹
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及计算机测试技术领域,尤其涉及一种测试方法和装置。

背景技术

随着计算机测试技术的飞速发展,在计算机程序测试和开发中,特别是敏捷开发管理方式下,为满足用户需求而要求周期缩短,程序代码、测试用例和测试脚本规模增长速度提升很快。为了提升测试用例使用效率,对于测试用例抽选、调整执行顺序的方法,相关人员做了很多的研究工作,研究的假设前提是测试用例是完备的,测试用例完备性对于测试结果有非常大的影响。

无论测试用例设计如何完备,应用程序版本发布商用之后,总是会有客户在使用过程中发现影响使用的缺陷,一般这类缺陷称为外场缺陷。而这些故障在系统测试中并没有被挖掘出来,并且在后续版本发布中有一定的再现概率,应用程序的版本分支越多,这种现象会越明显。这种情况,说明已有测试用例存在缺失或不足。

需求变更和新需求的出现往往是缺陷引入一个重要因素,会引入测试用例相应变化。测试用例对于需求变更没有覆盖,程序出现缺陷的概率将会增大。在测试前评估测试用例对需求变更的覆盖情况是非常重要的。本专利将需求变更和新需求统一用需求变更表示。

另外,在程序功能没有变化的前提下,代码重构在一定概率上会引入程序缺陷,测试用例可能需要做相应的变更,以适应代码重构。

但是,目前常用的测试方法中,没有进行测试用例完备性评估和采用测试用例分层排序的方法,因此存在测试效率不高的问题。

发明内容

本发明提供一种测试方法和装置。用于解决现有技术的测试效率不高,用于提升测试效率。

为达上述目的,一方面,本发明提供一种测试方法,包括:

获取与测试项目对应的测试用例,建立测试用例表;其中,每个测试项目至少有一条测试用例与之对应;

将所述测试用例表中不同测试项目对应的测试用例分别分配到不同优先级的层中,进行排序,建立测试用例执行顺序表;

根据所述测试用例执行顺序表,进行测试。

进一步,所述测试项目至少包括以下项目中一项:

外场缺陷、内部缺陷,需求变更、代码重构。

进一步,在对获取的测试用例进行排序之前,还包括对测试用例完备性进行评估,具体包括:

判断每个测试项目是否在所述测试用例表中都有与之对应的测试用例,如果是,则执行后续的测试用例排序操作;如果否,则生成与之对应的测试用例,并将生成的测试用例加入所述测试用例表中。

进一步,通过软件配置管理SCM触发测试用例完备性评估。

进一步,将所述测试用例表中不同测试项目对应的测试用例分别分配到不同优先级的层中,,具体包括:

外场缺陷和内部缺陷对应的测试用例设置为第一层;需求变更对应的测试用例设置为第二层;代码重构对应的测试用例设置为第三层;剩余的测试用例设置为第四层;第一层到第四层优先级逐渐降低。

进一步,第一层中的外场缺陷对应的测试用例利用如下规则进行排序:

获取每个外场缺陷的故障解决时间至当前时间的时长T;

对于T大于等于Ts的外场缺陷,则不再执行该外场缺陷对应的测试用例; Ts为预先设置的时长阈值;

对于T小于Ts的外场缺陷,则按照1/T的大小,对各个外场缺陷对应的测试用例进行排序;同一外场缺陷对应多个测试用例时,进行随机排序或按照编号排序。

进一步,第一层中的内部缺陷对应的测试用例利用如下规则进行排序:

按照内部缺陷对应的优先级进行排序;其中同等级内部缺陷对应多个测试用例时,进行随机排序或按照编号排序。

进一步,第二层的需求变更对应的测试用例利用如下规则进行排序:

利用Si值对需求变更对应的测试用例进行排序,同一需求变更对应的测试用例有多个时,进行随机排序或按照编号排序;

其中,Si=Li×Ci/Cavg;

Li表示第i个需求的优先级;Ci表示第i需求变更代码圈复杂度,M为变更需求的总数量,Cavg是平均复杂度。

进一步,第三层重构代码对应的测试用例的排序方法与第二层一致。

另一方面,本发明提供一种测试装置,包括:

获取模块,用于获取与测试项目对应的测试用例,建立测试用例表;其中,每个测试项目至少有一条测试用例与之对应;

排序模块,用于将所述测试用例表中不同测试项目对应的测试用例分别分配到不同优先级的层中,进行排序,建立测试用例执行顺序表;

测试模块,用于根据所述测试用例执行顺序表,进行测试。

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