[发明专利]一种基于二叉树算法的智能性能测试方法及系统在审
| 申请号: | 201510689259.6 | 申请日: | 2015-10-21 |
| 公开(公告)号: | CN105281977A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
| 发明(设计)人: | 周悦;郭振东;何泾沙;王威;潘铁;万雪姣;张伊璇 | 申请(专利权)人: | 北京软件产品质量检测检验中心 |
| 主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 王秀丽 |
| 地址: | 100193 北京市海淀区中关*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 二叉 算法 智能 性能 测试 方法 系统 | ||
1.一种基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.测试系统接受测试请求;
S2.确定所需测试区间、位移的颗粒度以及测试点;
S3.对所述测试点进行测试,判断所述测试是否成功,若不成功,执行S41,若成功,则执行S42;
S41.基于所述测试区间的上限值m、下限值n、位移颗粒度d,生成两个第一子测试区间,并自测试点q进行测试,检验其区间长度是否大于所述颗粒度,若大于返回S2,否则,执行S5;
S42.基于测试区间的上限值m、下限值n,生成两个第二子测试区间,并自测试点q进行测试,检验其区间长度是否大于所述颗粒度,若大于返回S2,否则,执行S5;
S5.记录测试饱和点,停止测试。
2.根据权利要求1所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,S2包括如下子步骤:
S21.确定所述上限值m和所述下限值n;
S22.确定所述位移颗粒度d;
S23.定位所述测试点q并更新记录。
3.根据权利要求2所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,所述测试点
4.根据权利要求2所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,所述第一子测试区间的生成过程如下:以所述颗粒度d为单位,在所述测试点q左右两侧各移动一位,形成两个所述第一子测试区间(q+d,m)和(n,q-d)。
5.根据权利要求2所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,所述第二子测试区间的生成过程如下:以所述测试点为界,将所述测试区间重新分成两个所述第二子测试区间(q,m)和(n,q)。
6.根据权利要求2所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,每次运行所述测试时,所述颗粒度d的值根据测试需求进行调整。
7.根据权利要求1所述的基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,所述测试饱和点为所述第一子测试区间长度或所述第二子测试区间长度首次小于或等于所述颗粒度时的所述测试点。
8.一种用于权利要求1-7任一所述的基于二叉树算法的智能性能测试的系统,其特征在于,包括:
接收测试请求模块,用于接受操作者发出的测试请求;
测试区间确定模块,用于确定测试区间的上限值与下限值;
颗粒度确定模块,用于根据测试需求确定颗粒度的值;
测试点定位模块,用于根据确定测试点;
测试模块,用于对所述测试点进行测试;
判断模块,用于判断所述测试模块进行的测试是否成功;
上一步位移控制模块,用于将所述测试点向左移动一个所述颗粒度的值,形成新的子测试区间的下限值;
下一步位移控制模块,用于将所述测试点向右移动一个所述颗粒度的值,形成新的子测试区间的上限值;
比较模块,用于判断各所述测试区间的区间长度与所述颗粒度的大小;
测试饱和点记录模块,用于记录测试饱和点并存储。
9.根据权利要求8所述的基于二叉树算法的智能性能测试系统,其特征在于,所述颗粒度确定模块能够根据测试需求对所述颗粒度的值进行调整。
10.根据权利要求8所述的基于二叉树算法的智能性能测试系统,其特征在于,所述测试点定位模块基于遗传算法与二叉树算法定位所述测试点。
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