[发明专利]应用于指纹传感器的像素点扫描方法和装置有效
| 申请号: | 201510686570.5 | 申请日: | 2015-10-21 |
| 公开(公告)号: | CN105718849B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
| 发明(设计)人: | 于泽 | 申请(专利权)人: | 深圳芯启航科技有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 应用于 指纹 传感器 像素 扫描 方法 装置 | ||
本发明公开了一种应用于指纹传感器的像素点扫描方法和装置,其中,上述像素点扫描方法包括:获取预设的N个寄存器的配置信息,其中,所述N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域,所述N不小于1;根据所述N个寄存器的配置信息的指定,对所述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描;若在扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域,则修改与所述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息,使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含所述坏点。本发明提供的技术方案能够有效提高指纹传感器的良率。
技术领域
本发明涉及指纹传感器技术领域,具体涉及一种应用于指纹传感器的像素点扫描方法和装置。
背景技术
指纹传感器是实现指纹图像自动采集的关键器件,由于指纹图像的唯一性,指纹传感器被广泛应用在身份识别领域中。
目前,指纹传感器进行像素点扫描时基于若干个固定的感兴趣区域(感兴趣区域是指图像上作为图像分析所关注的重点区域)进行扫描,当某一感兴趣区域存在坏点时,将该指纹传感器定义为缺陷芯片。由于指纹传感器的生产存在良率的问题,上述扫描方式中使得指纹传感器的良率大大降低。
发明内容
本发明提供一种应用于指纹传感器的像素点扫描方法和装置,用于提高指纹传感器的良率。
本发明第一方面提供一种应用于指纹传感器的像素点扫描方法,包括:
获取预设的N个寄存器的配置信息,其中,上述N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域,上述N不小于1;
根据上述N个寄存器的配置信息的指定,对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描;
若在扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域,则修改与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息,使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点。
本发明第二方面提供一种应用于指纹传感器的像素点扫描装置,包括:
获取单元,用于获取预设的N个寄存器的配置信息,其中,上述N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域,上述N不小于1;
扫描单元,用于根据上述N个寄存器的配置信息的指定,对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描;
寄存器配置单元,用于当在上述扫描单元扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域时,修改与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息,使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点。
由上可见,本发明中通过配置N个寄存器,使得N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域,并当根据N个寄存器的配置信息的指定,对该指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描时发现存在坏点的感兴趣区域时,修改与存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息,使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含坏点,通过可变的感兴趣区域实现了对坏点的规避,从而避免了因某一感兴趣区域存在坏点而直接将指纹传感器定义为缺陷芯片,相对于传统的指纹传感器像素点扫描方案,有效提高了指纹传感器的良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的像素点扫描方法一个实施例流程示意图;
图2为本发明提供的一种应用场景下的感兴趣区域分布示意图;
图3为本发明提供的一种块扫描示意图;
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