[发明专利]层侧具有中性反射色的日光控制涂层系统以及玻璃部件有效

专利信息
申请号: 201510642173.8 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN105481266B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: C·可科特;M·贝伦特 申请(专利权)人: 冯·阿德纳有限公司
主分类号: C03C17/34 分类号: C03C17/34;C03C17/36
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王小东
地址: 德国德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 具有 中性 反射 日光 控制 涂层 系统 以及 玻璃 部件
【权利要求书】:

1.一种在透明介电基底(S)上的日光控制涂层系统,该涂层系统从所述基底(S)向上观看具有至少下列涂层:

-含硅的介电底层(GS),

-第一功能层(FS1),

-介电中间层(ZS),

-第二功能层(FS2),

-含硅的介电顶层(DS),

-其中下述被称为低折射率的介电中间层的所述中间层(ZS)的折射指数,在550nm波长中小于所述介电底层(GS)和所述介电顶层(DS)的折射指数,并且所述涂层系统的涂层侧反射色值a*(Rf)介于-4≤a*(Rf)≤4的区间内并且所述涂层系统的涂层侧透射色值a*(T)介于-4≤a*(T)≤0的区间内,或所述涂层系统的涂层侧反射色值b*(Rf)介于-7≤b*(Rf)≤0的区间内并且所述涂层系统的涂层侧透射色值b*(T)介于-6≤b*(T)≤2的区间内。

2.一种在透明介电基底(S)上的日光控制涂层系统,该涂层系统从所述基底(S)向上观看具有至少下列涂层:

-含硅的介电底层(GS),

-第一功能层(FS1),

-介电中间层(ZS),

-第二功能层(FS2),

-含硅的介电顶层(DS),

-其中下述被称为低折射率的介电中间层的所述中间层(ZS)的折射指数,在550nm波长中小于所述介电底层(GS)和所述介电顶层(DS)的折射指数,并且所述涂层系统的涂层侧反射色值a*(Rf)介于-4≤a*(Rf)≤4的区间内并且所述涂层系统的涂层侧透射色值a*(T)介于-4≤a*(T)≤0的区间内,和所述涂层系统的涂层侧反射色值b*(Rf)介于-7≤b*(Rf)≤0的区间内并且所述涂层系统的涂层侧透射色值b*(T)介于-6≤b*(T)≤2的区间内。

3.根据权利要求1或2所述的涂层系统,其中:所述低折射率的介电中间层(ZS)由Al2O3、氮氧化铝、SiO2或550nm波长中折射指数小于2.0的氮氧化硅组成。

4.根据权利要求1或2所述的涂层系统,其中:所述第二功能层(FS2)之上布置一层或多层附加功能层(FSx,x=3,4,…),所述附加功能层与各自下方的功能层(FSx-1)由另一低折射率的介电中间层(ZS)所分隔。

5.根据权利要求1或2所述的涂层系统,其中:所述功能层(FS)由同种材料或由不同种材料组成。

6.根据权利要求1或2所述的涂层系统,其中:所述功能层(FS)由金属、金属合金或金属化合物组成。

7.根据权利要求6所述的涂层系统,其中:所述功能层(FS)由相同的材料或不同的材料组成。

8.根据权利要求7所述的涂层系统,其中:所述功能层(FS)由铬、镍铬、钛或其化学计量或亚化学计量的氮化物组成。

9.根据权利要求4所述的涂层系统,其中:所述低折射率的介电中间层(ZS)中至少一层由Al2O3、氮氧化铝、SiO2或550nm波长中折射指数小于2.0的氮氧化硅组成。

10.根据前述权利要求1或2所述的涂层系统,其中:所述底层及顶层(GS、DS)由Si3N4组成。

11.根据前述权利要求1或2所述的涂层系统,其中:一层或多层阻隔层(BS)布置成毗邻至少一层功能层(FS)。

12.根据权利要求11所述的涂层系统,其中:仅在最后功能层(FS)的正上方布置由镍铬或氮化镍铬组成的阻隔层(BS)。

13.根据权利要求6所述的涂层系统,其中:所述功能层(FS)由化学计量或亚化学计量的氮组成。

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