[发明专利]DVI信号转换装置和DVI信号输入测试板卡

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种DVI(DigitalVisualInterface，数字视频接口)信号转换装置和DVI信号输入测试板卡。

背景技术

目前在液晶显示屏开发过程中，特别是在中小尺寸液晶显示屏的开发过程中，需要一套点亮设备，相应需要一种将DVI信号转换为LVDS(Low-VoltageDifferentialSignaling，低电压差分信号)信号和TTL(晶体管-晶体管逻辑电平)信号的测试板卡。

然而，现有的DVI信号输入测试板卡并不能全硬件处理数据，从而不能最大程度的保证信号的完整性，需要通过软件对信号进行处理，不能满足尤其是对于开发过程中存在较多的异性屏和特殊分辨率屏的需要全硬件处理数据的要求。现有技术不能提供一种全通过硬件即可提供LVDS信号6bit(比特)、8bit单双路输出的DIV信号测试板卡，需要通过软件对信号处理，不能最大程度保证信号的完整性。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种DVI信号转换装置和DVI信号输入测试板卡，解决现有的DVI信号输入测试板卡并不能全硬件处理数据，从而不能最大程度的保证信号的完整性，需要通过软件对信号进行处理的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种DVI信号转换装置，包括TTL信号转换单元、LVDS信号转换单元和静电释放防护单元，其中，

所述TTL信号转换单元，用于将DVI信号转换为TTL信号；

所述LVDS信号转换单元，用于将所述TTL信号转换为LVDS信号；

所述静电释放防护单元，用于对所述LVDS信号进行静电释放防护。

实施时，所述TTL信号转换单元，用于根据预先设定的TTL输出模式同时输出双路8位TTL信号或单路8位TTL信号。

实施时，所述LVDS信号转换单元，具体用于根据预先设定的信号模式将所述TTL信号转换为6比特LVDS信号和/或8比特LVDS信号。

实施时，所述LVDS信号转换单元，具体用于根据预先设定的LVDS输出模式将所述TTL信号转换为单路6比特LVDS信号、双路6比特LVDS信号、单路8比特LVDS信号、双路8比特LVDS信号中的一项或多项。

实施时，所述LVDS信号转换单元具体用于将所述LVDS信号通过VESA模式或JEIDA模式输出。

实施时，所述TTL信号转换单元采用型号为TPF401或TPF401A的TTL信号转换芯片；

所述LVDS信号转换单元采用型号为THC63LVDM83A-G或THC63LVDF84A-G的LVDS信号转换芯片。

本发明还提供了一种DVI信号输入测试板卡，包括印刷电路板和设置在该印刷电路板上的上述的DVI信号转换装置。

实施时，本发明所述的DVI信号输入测试板卡还包括设置在所述印刷电路板上的电源模块；

所述电源模块用于为所述TTL信号转换单元和所述LVDS信号转换单元提供电源电压和控制电压。

实施时，本发明所述的DVI信号输入测试板卡还包括设置在所述印刷电路板上的USB接口、I2C总线接口、SPI总线接口和控制单元；

所述控制单元用于控制将所述USB接口接收的信号转换为I2C总线信号或SPI总线信号。

实施时，所述控制单元采用型号为CY7C6813A的接口芯片。

与现有技术相比，本发明所述的DVI信号转换装置和DVI信号输入测试板卡，可以将DVI信号转换为LVDS信号和TTL信号，不涉及软件对信号处理，全硬件处理数据，能最大程度的保证信号的完整性，可以做为调试板卡使用，对测试屏的相关光学指标进行调试。

附图说明

图1是本发明实施例所述的DVI信号转换装置的结构框图；

图2是本发明所述的DVI信号转换装置包括LVDS信号转换单元U10的一具体实施例的电路图；

图3是本发明实施例所述的DVI信号输入测试板卡的结构框图；

图4是本发明所述的DVI信号输入测试板卡的一具体实施例的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。