[发明专利]自适应门限控制器及控制方法、直扩信号检测方法及电路在审

专利信息
申请号: 201510624507.9 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN105245247A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 漆杨;王双陆 申请(专利权)人: 四川九洲电器集团有限责任公司
主分类号: H04B1/69 分类号: H04B1/69;H04B1/707
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 张文娟;朱绘
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 自适应 门限 控制器 控制 方法 信号 检测 电路
【权利要求书】:

1.一种自适应门限控制方法,包括:

统计当前一组待检测信号的个数N;

计算N个待检测信号与本地扩频序列的移位相关值;

判断所述移位相关值是否超过门限,并统计超过门限的移位相关值个数n;

基于待检测信号个数N和超过门限的相关值个数n选择符号函数ε;

基于所述符号函数ε修正门限,并将修正后的门限作为下一组待检测信号的门限。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述符号函数ε为:

ϵ=-1,n<N0,n=N1,n>N.]]>

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述符号函数修正门限的步骤进一步包括:

βk=βk-1+ε·Δβ

其中,βk-1为当前一组待检测信号的门限,βk为下一组待检测信号的门限,Δβ为门限增量。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,计算超过门限的移位相关值个数n的步骤进一步包括:

将N个待检测信号与本地扩频序列通过数字匹配滤波器进行移位相关运算,并依次输出运算后的移位相关值;

将所述移位相关值进行包络检波并将包络检波样本与门限进行比较,其中,超过门限的包络检波样本输出相关峰;

统计所述相关峰的数量从而得到超过门限的移位相关值个数n。

5.一种直扩信号检测方法,包括:

统计观测时间内带内待检测直扩信号的NNP个检测样本,其中,N为待检测直扩信号个数,NP为单个待检测直扩信号采样个数;

计算NNP个检测样本与本地扩频序列的移位相关值;

判断NNP个检测样本与本地扩频序列采样样本的移位相关值是否超过门限,并统计超过门限的移位相关值个数n;

基于待检测直扩信号个数N和超过门限的移位相关值个数n选择符号函数ε;

基于所述符号函数ε修正门限,并将修正后的门限作为下一观测时间内待检测直扩信号的门限。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述符号函数ε为:

ϵ=-1,n<N0,n=N1,n>N.]]>

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