[发明专利]电子设备及其信息处理方法在审
申请号: | 201510623767.4 | 申请日: | 2015-09-25 |
公开(公告)号: | CN105224209A | 公开(公告)日: | 2016-01-06 |
发明(设计)人: | 闫文林;薛俊东;张治成;袁银 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F3/0487 | 分类号: | G06F3/0487 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张振伟;张颖玲 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子设备 及其 信息处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及检测电子设备的检测技术,尤其涉及一种电子设备及其信息处理方法。
背景技术
目前,电子设备的一些应用场景中需要检测电子设备是否接收到特定形式的操作,如被按压或被握持进行特定方式的运动(如甩动),相关技术通常是利用电子设备中设置传感器(如重力传感器、陀螺仪)或触控面板等检测电子设备的运动状态来判断电子设备是否接收到特定形式的操作(如按压、甩动等),不仅需要相当的实施成本,并且容易出现误判的情况(因为电子设备的运动并不都是由于电子设备受到按压引起的);而利用触控面板的方式仅能检测到导体触控或按压的情况,如果佩戴手套或使用绝缘体按压触控面板时,电子设备无法检测到按压;
综上,对于获取在任意情况下都能够获取信号,以用于解析电子设备是否接收到操作、以及解析接收到的操作的特征,相关技术尚无有效解决方案。
发明内容
本发明实施例提供一种电子设备及其信息处理方法,能够获取在任意情况下都能够表征电容单元是否发生变形的信号,以用于解析电子设备是否接收到操作、以及解析接收到的操作的特征。
本发明实施例的技术方案是这样实现的:
本发明实施例提供一种电子设备,所述电子设备包括:
至少一个电容单元,用于产生至少两组信号,其中,所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变;
传输单元,与所述至少一个电容单元连接,用于获取所述至少两组信号并进行传输,所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形。
优选地,所述电子设备还包括:
壳体,具有容置空间,用于容置所述至少一个电容单元和所述传输单元;
所述电容单元,用于因所述壳体的至少第一部分感应到的外力使所述电容单元内部的电介质发生变形,并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电容单元,用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力导致所述外力传导至所述电容单元,使所述电容单元因感应到所述传导的外力而使所述电容单元内部的电介质发生变形,或者,因所述壳体的至少第一部分感应到外力而与所述壳体同步发生惯性变更的运动,因所述惯性变更的运动而使所述电容单元内部的电介质发生变形,并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电容单元,用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力使所述壳体上承载所述电容单元的第一区域发生变形时,或者使所述壳体内部承载所述电容单元的部件发生变形时,使所述电容单元内部的电介质发生变形,并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电容单元,设置于所述壳体的所述第一区域,还用于因所感应到所述壳体的所述第一区域的变形传导的外力而使所述电容单元中电介质发生变形,并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电子设备还包括支撑件,设置于所述壳体的所述容置空间中,用于作为承载所述电容单元的所述部件,并因感应到所述壳体的至少第一部分发生的变形所传导的外力而发生变形;
所述电容单元,还用于因所述支撑件的变形所传导的外力使所述电容单元中电介质发生变形,并因所述电介质变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电子设备还包括刚性支撑件,设置于所述壳体的容置空间中,用于设置所述电容单元,以使所述电容单元相对于所述壳体的位置固定;
所述壳体还用于在所述壳体的至少第一部分感应到所述外力时,因所述外力而发生导致惯性变更的运动,使所述电容单元与所述壳体同步发生所述惯性变更的运动;
所述电容单元,还用于所发生的惯性变更的运动使所述电容单元内部的电介质发生变形,并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。
优选地,所述电子设备还包括:
处理单元,与所述传输单元连接,用于基于所述至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化量,和/或,基于所述第一组信号、所述第二组信号相对于参考信号的变化量,判断所述电容单元的形态发生的变化;
所述处理单元,还用于基于所述至少一个电容单元的形态的变化量与参考变化量的比较结果,确定所述电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征。
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