[发明专利]一种数据校验方法及装置、电子设备

权利要求书

1.一种数据校验方法，包括：

将256位数据写入电子设备的数据存储单元的存储区域中，并将从所述存储区域中读取出的256位数据作为获取的数据；

根据第一校验和算法对写入的256位数据进行校验和计算，生成13位第一校验和数据；将13位第一校验和数据写入电子设备的数据存储单元的存储区域中；其中，所述13位第一校验和数据是根据数据存储单元中的32个单片器件的不同比特位进行校验和计算得到的；

根据所述第一校验和算法对所述获取的数据进行校验和计算，生成13位第二校验和数据；

将所述第一校验和数据和所述第二校验和数据进行比较，获得比较结果；

根据所述比较结果确定获取的所述256位数据的正确性。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述比较结果确定获取的所述256位数据的正确性，包括：

当所述比较结果表明所述第一校验和数据与所述第二校验和数据不同时，确定获取的256位数据中存在发生错误的数据；当所述比较结果表明所述第一校验和数据与所述第二校验和数据相同时，确定获取的256位数据中不存在发生错误的数据。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收另一电子设备发送的256位数据；

对应地，获取根据第一校验和算法生成的与获取的数据相关的13位第一校验和数据，包括：接收另一电子设备发送的13位第一校验和数据，所述接收的13位第一校验和数据为所述另一电子设备根据所述第一校验和算法对需要向所述电子设备发送的256位数据进行校验和计算而得出的。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将256位数据写入电子设备的数据存储单元的存储区域中，具体为：

将所述256位数据写入所述数据存储单元中的32个单片器件，其中，所述单片器件包括8个比特位。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述第一校验和算法对写入的256位数据进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据，具体包括：

对所述32个单片器件的第零比特位和第四比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第十二位；

对所述32个单片器件的第一比特位和第五比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第十一位；

对所述32个单片器件的第二比特位和第六比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第十位；

对所述32个单片器件的第三比特位和第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第九位；

对所述32个单片器件中的第零、第四、第八、第十二、第十六、第二十和第二十八单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第八位；

对所述32个单片器件中的第一、第五、第九、第十三、第十七、第二十一和第二十九单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第七位；

对所述32个单片器件中的第二、第六、第十、第十四、第十八、第二十二和第三十单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第六位；

对所述32个单片器件中的第三、第七、第十一、第十五、第十九、第二十三和第三十一单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第五位；

对所述32个单片器件中的第零、第一、第二和第三单片器件中的第零至第三比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第四位；

对所述32个单片器件的第四至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第三位；

对所述32个单片器件中的第八至第十五、第二十四至第三十一单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第二位；

对所述32个单片器件中的第四至第七、第十二至第十五、第二十至第二十三、第二十八至第三十一单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第一位；

对所述32个单片器件中的第十六至第三十一单片器件中的第零至第七比特位进行校验和计算，生成所述13位第一校验和数据中的第零位。