[发明专利]一种边缘缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510617175.1 申请日: 2015-09-24
公开(公告)号: CN105335963B 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 彭斌;姚毅;高中伟;周钟海 申请(专利权)人: 凌云光技术集团有限责任公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100195 北京市海淀区杏石*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 拟合 边缘点 边缘缺陷 待测物体 候选边缘 检测结果 缺陷边缘 检测 拍摄设备 物体图像 阈值距离 吻合 图像 拍摄 分析
【说明书】:

发明实施例公开了一种边缘缺陷检测方法及装置,根据拍摄设备拍摄的待测物体的图像,获取所述待测物体的边缘点;对所述边缘点评分,根据评分的高低确定拟合边缘点和候选边缘点;拟合边缘点拟合得到所述待测物体的拟合边缘;计算候选边缘点到所述拟合边缘的距离,如果所述距离大于缺陷阈值距离,则所述候选边缘点为缺陷边缘点;根据所述缺陷边缘点,得到边缘缺陷检测结果。在上述过程中,通过对待测物体图像的分析以及对边缘点的评分,高精度地确定边缘点,所述边缘点拟合得到与待测物体边缘吻合的拟合边缘,通过精确计算候选边缘点到所述拟合边缘的距离,判断边缘缺陷、自动得出检测结果,无需人工介入,有效提高边缘缺陷检测的精度和效率。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域,特别是涉及一种边缘缺陷检测方法及装置。

背景技术

工业产品中往往包含各种形状的边缘,例如圆形、长方形以及直线和圆弧的组合形状的边缘等。边缘是工业产品的一项重要特征,直接影响工业产品的质量,而边缘缺陷检测一直是困扰本领域技术人员的难题。

边缘缺陷检测,主要检测工业产品边缘的一致性,即检测工业产品边缘是否存在凸痕、凹痕等缺陷。具体地,例如对手机外屏和集成电路硅片的边缘缺陷检测,手机外屏和集成电路硅片一般具有规则的边缘,手机外屏具有长方形边缘,集成电路硅片具有圆弧和直线的组合边缘;手机外屏的边缘如果存在缺陷,则会影响到手机外屏的装配,甚至导致手机无法正常使用;集成电路硅片的边缘如果存在缺陷,则会影响集成电路的制造,甚至导致基于集成电路硅片的芯片质量下降。因此,对工业产品的边缘缺陷检测是工业生产的重要环节。

目前,边缘缺陷检测主要为人工检测,图1为一种工业生产线上常用的边缘缺陷检测设备的结构示意图。所述边缘缺陷检测设备包括拍摄设备110和平台120,待测物体130放置于平台120上;所述拍摄设备110设置于所述平台120的正上方用于拍摄所述待测物体130、并获得图像,所述平台120的背景色一般为纯色且与所述待测物体130的色彩具有明显对比,以使所述待测物体130的图像边缘更加清晰可辨。工作人员一般以肉眼观察的方式检查待测物体130的图像,查看是否存在凹痕或凸痕缺陷,然而上述检测方式依赖于人眼的视觉检查,精度很难保证,而且长时间的检查容易导致视觉疲劳,从而降低检测效率甚至导致错检、漏检。

发明内容

本发明实施例中提供了一种边缘缺陷检测方法及装置,以解决现有技术中的边缘缺陷检测精度差和效率低的问题。

为了解决上述技术问题,本发明实施例公开了如下技术方案:

一种边缘缺陷检测方法,所述方法包括:

根据拍摄设备拍摄的待测物体的图像,获取所述待测物体的边缘点;

对所述边缘点评分,根据评分的高低确定拟合边缘点和候选边缘点;

根据所述拟合边缘点拟合待测物体的边缘,得到所述待测物体的拟合边缘;

计算并得出所述候选边缘点到所述拟合边缘的距离,并判断所述距离是否大于缺陷阈值距离;

如果所述距离大于所述缺陷阈值距离,则所述候选边缘点为缺陷边缘点;

根据所述缺陷边缘点,得到边缘缺陷检测结果。

可选地,根据所述拍摄设备拍摄的待测物体的图像,获取所述待测物体的边缘点之前,所述方法还包括:

将所述待测物体的图像沿边缘位置分段,分段图像与所述边缘点相对应。

可选地,所述方法还包括:

根据待测物体图像的对比度,确定所述待测物体的边缘点。

可选地,根据所述边缘点的对比度和边缘点的位置,对所述边缘点评分,包括:

根据边缘点的对比度,获得所述边缘点的强度评分;

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