[发明专利]一种Mura自动检测方法及系统有效
| 申请号: | 201510615715.2 | 申请日: | 2015-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN105158942B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
| 发明(设计)人: | 陶子英;王娟娟 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
| 地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示面板 图像 参考 自动检测 图像成像装置 数据库 调用 观测 正态分布统计 自动检测装置 采集 建立数据库 准确率 存储 | ||
1.一种Mura自动检测方法,其特征在于,包括:
建立数据库,所述建立数据库包括:
利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;
将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;
接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;
将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;以及
存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;
利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;
将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及
调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值;
其中,将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值,包括根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
2.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述建立数据库还包括:将所述待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储于数据库中。
3.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述图像成像装置为摄像头。
4.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像的步骤之后还包括:
对每个参考显示面板的图像进行图像处理;
其中,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波。
5.如权利要求4所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述图像处理的步骤还包括CV主动轮廓模型和水平集方法处理。
6.一种Mura自动检测系统,其特征在于,包括:
参考JND值生成装置,所述参考JND值生成装置用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理,并接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值后进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;
数据库,所述数据库用于存储所述每个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;
图像成像装置,用于采集待测显示面板的图像;
第一图像处理装置,所述第一图像处理装置用于将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及
第二图像处理装置,所述第二图像处理装置用于调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值;
其中,参考JND值生成装置根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
7.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述数据库还用于存储所述待测显示面板的每个区域的图像,并将所述待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储起来。
8.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述图像成像装置为摄像头。
9.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述参考JND值生成装置还用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理;
其中,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波。
10.如权利要求9所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述图像处理的步骤还包括CV主动轮廓模型和水平集方法处理。
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