[发明专利]一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度的新方法在审

专利信息
申请号: 201510611230.6 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN105182367A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 蔡成林;秦懿;李思敏;王京辉;王亮亮;刘昌盛;张炘;卢亚军 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01S19/07 分类号: G01S19/07
代理公司: 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 代理人: 杨雪梅
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 提取 bds 卫星 电离层 穿刺 电子 浓度 新方法
【权利要求书】:

1.一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度新方法,其特征是包括如下步骤:

(1)卫星电离层穿刺点位置及倾斜因子的解算

穿刺点纬度φpp=arcsin(sinφucosψpp+cosφusinψppcosAZ),穿刺点经度λpp=λu+arcsin(sinψppsinAZcosφpp),]]>倾斜因子F=1sinE=11-(Re+hRe+hicos E)2]]>

其中AZ为方位角,ψpp为地心角,(φuu)为用户位置,Re为地球平均半径,E为用户仰角,E'为穿刺点IPP的仰角,h和hi分别为电离层监测站和最大电子浓度距地面的高程;

(2)电离层穿刺点的大地坐标转化为大地直角坐标

x=(N+H)cos B cos Ly=(N+H)cos B sin Lz=[N(1-e2)+H]sin B,]]>其中N=aW=a1-e2sin2B,]]>(B,L,H)表示电离层穿刺点的纬度、经度和高程,(x,y,z)表示相应的大地直角坐标,N为地球面卯酉圈的曲率半径,e为地球的第一偏心率,a为地球的长半径;

(3)利用GPS双频数据提取电离层穿刺点垂向电子浓度

VTEC=-f12f22F(Z)·40·3·(f12-f22)·(ΔPr.sms-c·DCBr-c·DCBs)]]>

其中ΔP是两个不同频率间的伪距差分值;VTEC为接收机到卫星电离层穿刺点垂向电子含量;F(Z)为电离层投影函数;c表示光在真空中的传播速度;DCBr为接收机频间偏差,对所有卫星而言,DCBr是一致的;DCBs是GPS卫星频间偏差;f1与f2为GPS两个频点(f1=1557.42MHZ,f2=1227.60MHZ);

(4)提取BDS卫星电离层穿刺点TEC

计算两类卫星电离层穿刺点相距距离其中点(xg,yg,zg)为GPS卫星电离层穿刺点大地直角坐标,点(xb,yb,zb)为BDS卫星电离层穿刺点大地直角坐标;根据电离层在小区域内具有良好的空间相关性,电离层穿刺点距离在100Km内垂向电离层延迟差值处于0.2~0.5米范围内,将搜索到的BDS与GPS卫星电离层穿刺点电子浓度近似相等,获取BDS卫星电离层穿刺点的垂向电子浓度VTEC,再通过倾斜因子F转化为站-星斜向电离层含量TEC,TEC=F·VTEC。

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