[发明专利]一种浮空器囊体材料热合检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510595716.5 申请日: 2015-09-17
公开(公告)号: CN105067663A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 胡琦;张青川;曹鹏涛;荣海春;苏润;倪勇;程腾;张勇 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所;南京中迅微传感技术有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 丁瑞瑞
地址: 230000 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 浮空器囊体 材料 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种浮空器囊体材料热合检测装置,其特征在于,包括红外激励光源、功率放大器、信号发生器、红外热像仪、激光定位器、工控机;

所述信号发生器和功率放大器相连,所述功率放大器和红外激励光源连接,所述红外激励光源加热待测试件;所述红外热像仪设置于待测试件之上,用于测量特定视场中的温度场变化,所述红外热像仪连接工控机;所述激光定位器设置于红外热像仪的边缘,用于定位红外热像仪的视场大小;所述工控机连接激光定位器,用于接收定位信息;所述工控机分别连接信号发生器和功率放大器。

2.根据权利要求1所述的一种浮空器囊体材料热合检测装置,其特征在于,所述工控机和红外热像仪通过有线或无线网络连接。

3.一种如权利要求1所述的浮空器囊体材料热合检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)红外热源对待测试件持续加热,热流在待测试件内热传导,直至试件的表面出现周期性的正弦温度变化;

所述正弦温度变化,表示为:

T(x,y)=Aei[ωt-φ(x,y)]

式中,A为正弦型温度变化的幅值,Φ(x,y)为相位。

(2)将实时记录的试件表面的红外热图像,通过得出试件表面温度变化的相位图;

由红外热像仪连续采集的热图像重建得到温度场A(x,y),即:

A(x,y)=(S1(x,y)-S3(x,y))2+(S2(x,y)-S4(x,y))2]]>

φ(x,y)=arctanS1(x,y)-S3(x,y)S2(x,y)-S4(x,y)]]>

式中,Si(i=1,2,3,4)是由红外热像仪连续采集的4副热图像,采样周期为T/4;

(3)将得到的试件表面温度变化的相位图与预存的试件的标准相位图对比,通过相位差识别出缺陷。

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