[发明专利]噪声系数辅助测量装置

说明书

本发明公开了一种噪声系数辅助测量装置，包括一电路板，所述电路板上具有：低频射频输入接口、低频射频输出接口、高频射频输入接口、高频射频输出接口、负极电源接口、正极电源接口、地接口，所述低频射频输入接口与所述低频射频输出接口均连接有第一兰格耦合器，两所述第一兰格耦合器之间连接有两第一分路，所述第一分路包括第一低噪声HEMT管、第一匹配电路；所述高频射频输入接口与所述高频射频输出接口均连接有第二兰格耦合器，两所述第二兰格耦合器之间连接有两第二分路，所述第二分路包括第二低噪声HEMT管、第二匹配电路。本发明提高采用频谱仪和噪声源测量低噪声、低增益射频接收系统噪声系数的精度，实现对噪声系数的低成本、高精度测量。

技术领域

本发明涉及一种测量装置，尤其涉及一种噪声系数辅助测量装置。

背景技术

低噪声放大器是射频接收机前端的重要组成部分，通常出现在信号进入接收机的第一级，在放大接收信号的同时抑制噪声干扰，对整个接收机的噪声性能至关重要。

为了提高无线设备的传输距离，通常需要在接收机之前放置一外部低噪声放大器，这就需要射频工程师对低噪声放大器的噪声性能进行测定。噪声系数通常的测量工具是噪声仪，但是噪声仪的价格非常昂贵，且仅适用于噪声系数的测量，使用率较低，实验室通常不会配备。

频谱仪被称为射频工程师的万用表，用途非常广泛，且价格相对同频段的其它射频测量设备较为便宜，为一般射频实验室的必备仪器。由此发展出Y系数测量法，在频谱仪的基础上再添置一价格较便宜的噪声源，即可完成对噪声系数的简单测量。但是，Y系数测量法仅适合增益和噪声系数都较大的射频接收系统噪声系数的测量。低噪声放大器的噪声系数小，放大倍数通常低于20dB，Y系数法测量结果误差大。这就对低噪声放大器这类低噪声系数、低增益系统的噪声系数低成本测量，提出了挑战。

发明内容

本发明公开了一种噪声系数辅助测量装置，用以解决现有技术中低噪声放大器这类低噪声系数、低增益系统的噪声系数低成本测量的问题。

本发明的上述目的是通过以下技术方案实现的：

一种噪声系数测量辅助装置，其中，包括一电路板，所述电路板上具有：低频射频输入接口、低频射频输出接口、高频射频输入接口、高频射频输出接口、负极电源接口、正极电源接口、地接口，所述低频射频输入接口与所述低频射频输出接口均连接有第一兰格耦合器，两个所述第一兰格耦合器之间连接有两个第一分路，所述第一分路包括第一低噪声HEMT管、第一匹配电路；所述高频射频输入接口与所述高频射频输出接口均连接有第二兰格耦合器，两个所述第二兰格耦合器之间连接有两个第二分路，所述第二分路包括第二低噪声HEMT管、第二匹配电路。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中， 所述第一分路包括：三个所述第一匹配电路，任意两个第一匹配电路之间均连接有一所述第一低噪声HEMT管；所述第二分路包括：三个所述第二匹配电路，任意两个第二匹配电路之间均连接有一所述第二低噪声HEMT管。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中，所述第一低噪声HEMT管为10MHz~2GHz的低噪声HEMT管。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中， 所述第二低噪声HEMT管为2~6GHz的低噪声HEMT管。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中， 所述第一兰格耦合器为10MHz~2GHz的兰格耦合器。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中，所述第二兰格耦合器为2~6GHz的兰格耦合器。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中，所述负极电源接口接在所述第一低噪声HEMT管、所述第二HEMT管的一端，所述正极电源接口接在第一低噪声HEMT管、所述第二低噪声HEMT管的另一端。

如上所述的噪声系数测量辅助装置，其中，两个所述第一分路相位相差90度，两个所述第二分路相位相差90度。