[发明专利]增强型稀疏表示高光谱图像分类装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510577708.8 申请日: 2015-09-11
公开(公告)号: CN105205496B 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 陈善学;屈龙瑶;桂成名;胡灿 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 空间 信息 约束 增强 稀疏 表示 光谱 图像 分类 装置 方法
【权利要求书】:

1.增强型稀疏表示高光谱图像分类装置,其特征在于,包括:稀疏表示残差值重新计算模块、空间分类信息与光谱分类信息融合模块、待测像元类别多次循环计算模块,稀疏表示残差值重新计算模块:利用初始分类结果将残差向量进行分组,构成残差向量集,计算对应频段每一个类别的残差向量集的方差向量,将对角化的方差向量作为正规化欧氏距离中的对角矩阵,计算重构像元与待测像元的相似度;空间分类信息与光谱分类信息融合模块:利用待测像元周围八邻域内像元的类别标签,设置空间信息约束权值,根据稀疏表示残差值和空间信息权值,判断待测像元的类别;待测像元类别多次循环计算模块:将空间分类信息与光谱分类信息融合模块确定的待测像元的类别作为初始条件,对残差向量进行重新分组,调用稀疏表示残差值重新计算模块重新计算待测像元的新类别,直至达到设置的循环次数,输出分类结果。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,获得对角矩阵的步骤具体包括,将待测像元对应的残差向量分组,组成残差向量集Ni;根据第i类残差向量集的第j频段向量Nij,调用公式计算第i类残差向量集Ni中第j频段的方差Sij,由此获得残差向量集Ni对应的方差向量Si=[si1,si2,…,sid],将方差向量对角化为∑i,所有C类别对应的方差对角矩阵为{∑1,∑2,…,∑i,…,∑C},其中,mean(Nij)表示Nij的均值,||||2表示对向量求L2范数。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,计算重构像元与待测像元的类别相似度具体包括:根据第i类字典Ai,稀疏重构系数向量αi,Si的对角矩阵∑i,利用正规化欧式距离公式:计算重构像元Aiαi相对于待测像元xt的重构残差值所述设置空间信息约束权值具体包括,提取以待测像元xt为中心的空间8邻域内像元信息,获取类别标签组,将其中的第i类标签数目的负值设置为第i类别空间信息约束权值Wi

4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,找出初始分类结果class向量中第i类类别标签的位置坐标indexi,所有C个类别对应在class中的坐标为[index1,index2,…,indexi,…,indexC],在第i类的所有残差向量Ri中按照indexi中的坐标取出对应位置上的残差向量,构成第i类的残差向量集Ni,获得所有C类别构成的分组残差向量集为{N1,N2,…,Ni,…,NC}。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆邮电大学,未经重庆邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510577708.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top