[发明专利]多模介质介电常数测试装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及无线通心射频器件技术领域，尤其涉及多模介质介电常数测试装置及其使用方法。

背景技术

随着陶瓷介质在微波通信领域的迅速发展，多模介质滤波器的应用也受到越来越多的关注，但多模介质滤波器研究的难点之一就是对多模介质的介电性能及尺寸精度要求较高，必须通过严格的加工及精确的测量来保障。

对于多模介质的介电性能测试，目前鲜有涉及，或采用的方式是用介质样品环替代测试，结构上的差异使得测试准确性较低。

对于采用介质样品环替代多模介质测试，存在以下弊端：一、介质样品环为圆形，而实际的多模介质为方形，结构上的不同可能导致成型密度不同，使得介电常数存在差异；二、介质样品环测试时，通常需要一个圆形支撑体作支撑，该圆形支撑体对介质的定位精度较低，不仅影响测试准确性，批量测试一致性也难以保证。

上述用介质样品环替代多模介质测试存在的弊端促使我们去探讨新的测试方法，来解决多模介质的精确测量要求。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足提供一种多模介质介电常数测试装置，旨在解决现有的多模介质介电性能传统测试方法的弊端，以提高测量精度，保证产品性能以及产品的批量可制造性。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：多模介质介电常数测试装置，包括开设有屏蔽腔的金属体以及盖设于所述屏蔽腔上方的盖板，所述屏蔽腔的内底部设置有支撑体，所述支撑体的顶端面开设有定位槽，所述屏蔽腔相对的两侧壁分别穿设有一耦合探针。

优选的，两所述耦合探针的外端部均设置有射频连接器。

优选的，所述定位槽的其中相邻的两端为敞开结构，相对该敞开结构的另相邻的两端形成L型槽壁。

优选的，所述屏蔽腔为方形屏蔽腔。

优选的，所述支撑体由PTFE、PPE或PI材料制成。

优选的，所述屏蔽腔和盖板的内表面均设置有镀银层。

优选的，所述支撑体开设有至少一个沉头孔，所述支撑体通过沉头螺钉穿设该沉头孔与所述屏蔽腔的内底部连接。

优选的，所述金属体的顶部开设有至少一个第一螺孔，所述盖板开设有至少一个与所述第一螺孔对应的第二螺孔，所述盖板通过螺钉穿设所述第二螺孔和第一螺孔与所述金属体固定连接。

本发明的有益效果：本发明的多模介质介电常数测试装置，测试时，将被测的多模介质体放在支撑体的定位槽内；接着通过定位槽对该多模介质体进行定位，并确保多模介质体位于两耦合探针的内端部之间；接着将盖板盖设于屏蔽腔的上方并压紧在金属体的顶部；接着将频率测试仪的I/O电缆分别与两个耦合探针的外端部连接，然后读取谐振频率；最后将读取的谐振频率以及多模介质体的外形尺寸代入仿真软件，计算出多模介质体的介电常数。本发明能够直接对多模介质进行测试，无需制作样品环，节省了加工周期，实测得到的数据和仿真吻合度较好，保证测试的准确性；且装置结构简单，操作简易，可批量测试，保证多模介质滤波器批量制造的可行性。

本发明的目的在于针对现有技术的不足提供一种多模介质介电常数测试装置的使用方法，旨在解决现有的多模介质介电性能传统测试方法的弊端，以提高测量精度，保证产品性能以及产品的批量可制造性。

为实现上述目的，本发明的另一技术方案是：一种多模介质介电常数测试装置的使用方法，

(a)将被测的多模介质体放在支撑体的定位槽内；

(b)通过定位槽对该多模介质体进行定位，并确保多模介质体位于两耦合探针的内端部之间；

(c)将盖板盖设于屏蔽腔的上方并压紧在金属体的顶部；

(d)将频率测试仪的I/O电缆分别与两个耦合探针的外端部连接，然后读取谐振频率；

(e)将读取的谐振频率以及多模介质体的外形尺寸代入仿真软件，计算出多模介质体的介电常数。

优选的，所述步骤(c)具体的为：将盖板盖设于在屏蔽腔的上方并压紧在金属体的顶部，然后倾斜金属体使得多模介质体通过自重紧靠于定位槽的槽壁。

本发明的有益效果：通过本发明的方法能够直接对多模介质体进行测试，无需制作样品环，节省了加工周期，实测得到的数据和仿真吻合度较好，保证测试的准确性；且操作简易，可批量测试，保证多模介质滤波器批量制造的可行性。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明中被测的多模介质体的结构示意图。

附图标记包括：

10—金属体11—屏蔽腔12—第一螺孔

20—盖板21—第二螺孔30—支撑体