[发明专利]基于外推常规应力下亮度衰减数据的VFD寿命预测方法

说明书

本发明涉及一种基于外推常规应力下亮度衰减数据的VFD寿命预测方法，包括以下步骤：1)获得多个加速温度应力下不同给定亮度对应的加速时间；2)根据所述加速时间外推出常规应力下不同给定亮度所对应的时间；3)根据步骤2)获得常规应力下VFD的威布尔亮度衰减公式；4)根据所述威布尔亮度衰减公式预测常规应力下VFD寿命。与现有技术相比，本发明具有预测精确、试验时间短等优点。

技术领域

本发明涉及一种VFD寿命预测方法，尤其是涉及一种基于外推常规应力下亮度衰减数据的VFD寿命预测方法。

背景技术

真空荧光显示器(Vacuum Fluorescent Display，简称VFD)是一种低压、直流驱动的平板电真空器件。由于它具有低压驱动、可靠性高、使用寿命长等诸多优点，所以在电子和电气设备的显示面板上得到了广泛使用。为了得到它的寿命分布和各种可靠性特征，在正常工作条件下采取寿命试验这一基本的可靠性试验方法需要数万小时；同时，由于科技发展日新月异，产品更新换代的速度愈来愈快，以及日益激烈的市场竞争，要在正常工作条件下进行寿命试验，试验结束时产品有可能已经更新，失去了试验的意义。因此，迫切需要对VFD进行加速寿命试验，以期在较短时间内精确估计VFD的寿命，才不至于被市场所淘汰。

一般情况下，可以直接借助于VFD在常规应力下的平均亮度衰减数据，采用威布尔曲线拟合来实现寿命的预测；在其加速参数β已经确定的条件下，也可以通过记录其加速寿命试验样品的失效时间、采用极大似然法估计威布尔参数的方法来预测VFD平均寿命，但上述方法均存在花费时间较长、预测精度难以保证等不足。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种预测精确、试验时间短的基于外推常规应力下亮度衰减数据的VFD寿命预测方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种基于外推常规应力下亮度衰减数据的VFD寿命预测方法，包括以下步骤：

1)获得多个加速温度应力下不同给定亮度对应的加速时间；

2)根据所述加速时间外推出常规应力下不同给定亮度所对应的时间；

3)根据步骤2)获得常规应力下VFD的威布尔亮度衰减公式；

4)根据所述威布尔亮度衰减公式预测常规应力下VFD寿命。

所述步骤1)具体为：

11)采集加速温度应力T_j下n_j个试验样品的亮度数据，获取n_j个试验样品的平均亮度

其中，D(t_i,jk)为第i个试验样品k时刻t_i,jk在加速温度应力T_j下的亮度，i＝1,2,...,n_j，j＝1,2,3,N，N为加速温度应力的个数；

12)计算加速时间t_jk：

其中，为加速温度应力T_j下n_j个试验样品的平均初始亮度，η_j为尺度参数，m_j为形状参数；

13)取N_l个不同给定亮度，根据步骤12)计算各加速温度应力T_j下的加速时间，形成N_l组数据点(T_j,t_jl)，l＝1,2,...,N_l，每一组由N个数据点组成。

所述加速温度应力的个数N取为4。