[发明专利]确定针对三维显示装置的校准参数的方法及三维显示装置

权利要求书

1.一种确定针对三维显示装置的校准参数的方法，所述方法包括：

在三维显示装置的显示面板上显示第一图案的图像；

获取通过第一图案的图像通过显示面板和三维显示装置的光层被输出而形成的第二图案的图像；

基于第一图案和第二图案确定针对三维显示装置的校准参数，

其中，确定的步骤包括：基于与第一图案的周期对应的参数、与第二图案的梯度对应的参数以及与第二图案的周期对应的参数确定针对三维显示装置的校准参数，

其中，第一图案的周期包括第一图案所包括的线之间的间隔，第二图案的梯度包括第二图案所包括的线的斜率，第二图案的周期包括第二图案所包括的线之间的间隔。

2.如权利要求1所述的方法，其中，使用在显示面板中排列的子像素显示第一图案。

3.如权利要求1所述的方法，其中，第一图案是相同亮度的连续线按期望间隔布置的图案。

4.如权利要求1所述的方法，其中，第二图案是包括多个点的线按期望间隔布置的图案。

5.如权利要求1所述的方法，其中，光层包括透镜阵列、视差屏障和定向背光中的至少一个。

6.如权利要求1所述的方法，其中，校准参数包括以下参数中的至少一种参数：

与光层的尺寸相关联的参数；

与光层的位置相关联的参数。

7.如权利要求6所述的方法，其中，与光层的尺寸相关联的参数包括光层的间距。

8.如权利要求6所述的方法，其中，与光层的位置相关联的参数包括光层与显示面板之间的旋转角。

9.如权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤包括：基于显示面板的子像素结构获得与第一图案的周期对应的参数。

10.如权利要求9所述的方法，其中，显示面板的子像素结构包括用于第一图案的颜色的子像素之间的间隔。

11.如权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤包括：

测量与第二图案的梯度对应的参数；

测量与第二图案的周期对应的参数。

12.如权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤包括：

对第二图案的图像执行傅里叶变换；

基于经傅里叶变换的图像，测量与第二图案的梯度对应的参数；

基于经傅里叶变换的图像，测量与第二图案的周期对应的参数。

13.如权利要求12所述的方法，其中，测量与第二图案的周期对应的参数的步骤包括：

计算经傅里叶变换的图像中的具有最高强度的像素之间的高度差；

基于计算出的高度差和经傅里叶变换的图像的高度，计算包括在第二图案中的线之间的间隔。

14.如权利要求12所述的方法，其中，测量与第二图案的梯度对应的参数的步骤包括：

计算连接经傅里叶变换的图像中的具有最高强度的像素的第一线的斜率；

基于计算出的第一线的斜率，计算包括在第二图案中的第二线的斜率。

15.如权利要求14所述的方法，其中，测量与第二图案的梯度对应的参数的步骤还包括：

检测在水平方向上最接近于经傅里叶变换的图像的原点的点；

计算连接原点和检测到的点的第三线的斜率，

其中，基于计算出的第三线的斜率对第二线的斜率进行校准。

16.如权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤包括：基于与第一图案的周期对应的参数、与第二图案的梯度对应的参数和与第二图案的周期对应的参数计算校准参数。