[发明专利]射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方法

权利要求书

1.一种射线检测铸件点状缺陷深度的方法，包括如下步骤：

在铸件的一侧设置第一照射位置、第二照射位置，第一照射位置到铸件的距离等于第二照射位置到铸件的距离，第一照射位置与铸件上的待测位置相正对，第一照射位置与第二照射位置之间的距离为H₁，第一照射位置到铸件上的待测位置的距离为L，在铸件的另一侧设置第一曝光图片获取装置，第一曝光图片获取装置与连接第一照射位置、第二照射位置的直线平行，第一曝光图片获取装置与铸件上的待测位置相平行，铸件的被检测厚度的厚度值为T；

将放射源放置在第一照射位置后，垂直照射铸件上的待测位置，以使第一曝光图片获取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第一曝光图片获取装置上的第一投影点；

将铸件的另一侧设置的曝光后的第一曝光图片获取装置取下，在铸件的另一侧原来设置第一曝光图片获取装置的位置上再设置第二曝光图片获取装置，第二曝光图片获取装置与第一曝光图片获取装置尺寸相同；

将放射源放置在第二照射位置后，放射源指向铸件上的待测位置后照射，以使第二曝光图片获取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第二曝光图片获取装置上的第二投影点；

将曝光后的第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置重叠放置，以测量出第一投影点与第二投影点之间的距离H₂，其中，第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置重叠放置时，第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置上的图像相重合，其中，第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置为胶片；

利用相似三角形的同比原理，用如下公式计算铸件的点状缺陷到铸件两侧表面的距离T₁与T₂；

（1）

T=T₁+T₂（2）。

2.一种射线检测铸件点状缺陷深度的系统，其特征在于：包括铸件定位装置、放射源、第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置、数据处理装置，第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置用于在受到放射源照射后产生对应的反应铸件的待测位置的点状缺陷的曝光图片，铸件定位装置包括支架、设置在支架两端的放射源定位移动机构、曝光图片获取装置固定机构、设置在支架上的铸件定位机构，铸件定位机构位于放射源定位移动机构、曝光图片获取装置固定机构之间，且铸件定位机构靠近曝光图片获取装置固定机构；数据处理装置与第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置、铸件定位装置电性连接，数据处理装置用于控制设置有放射源的放射源定位移动机构移动到第一照射位置、第二照射位置，第一照射位置与设置在铸件定位机构上的铸件上的待测位置相正对，第一照射位置到铸件的距离等于第二照射位置到铸件的距离，数据处理装置还用于控制曝光图片获取装置固定机构依次夹持第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置，以使第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置依次获得第一曝光图片、第二曝光图片，第一曝光图片中具有第一投影点，第一投影点是铸件上的待测位置上的缺陷点在第一曝光图片中的投影点，第二曝光图片中具有第二投影点，第二投影点是铸件上的待测位置上的缺陷点在第二曝光图片中的投影点；数据处理装置还用于根据第一曝光图片中的第一投影点、第二曝光图片中的第二投影点计算出第一投影点与第二投影点之间的距离H₂，数据处理装置中还预设有铸件的被检测厚度的厚度值T、第一照射位置与第二照射位置之间的距离值H₁、第一照射位置到铸件上的待测位置的距离为L，数据处理装置还用于根据如下公式计算铸件的点状缺陷到铸件两侧表面的距离T₁与T₂；

（1）

T=T₁+T₂（2）。

3.根据权利要求2所述的射线检测铸件点状缺陷深度的系统，其特征在于：第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置为平板探测器。