[发明专利]空间辐射环境可靠性分析方法

权利要求书

1.一种空间辐射环境可靠性分析方法，其特征在于，包括：

S1、将空间辐射环境下电子系统中预设层级的分析对象按照故障预警修复方式分为若干个组别，

其中，所述预设层级为系统级、设备级或器件级，系统级的分析对象为电子系统，设备级的分析对象为该电子系统中的设备，器件级的分析对象为该电子系统中的电子器件；

S2、计算预设层级的每一组别在空间辐射环境中的辐射应力作用下的失效率；

S3、根据预设层级的相应组别在空间辐射环境中的辐射应力作用下的失效率，计算预设层级的相应组别在空间辐射环境下的总失效率，其中所述总失效率包括辐射应力作用下的失效率和非辐射应力作用下的失效率；

S4、根据预设层级中各组别的所述总失效率，计算空间辐射环境可靠性的分析指标的大小；

S5、根据所述分析指标的大小，对所述空间辐射环境可靠性进行分析，得到分析结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在所述步骤S1中分组得到的组别包括：计划中断短期硬失效组别、计划中断长期硬失效组别、非计划中断短期硬失效组别、非计划中断长期硬失效组别和软失效组别。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预设层级中每一组别的失效率λ_SRE通过下式计算：

λ_SRE＝λ_SEE+λ_TID+λ_DD

其中，λ_SEE为相应组别中的所有分析对象在辐射应力作用下因发生单粒子效应而失效的失效率之和，λ_TID为所述相应组别中的所有分析对象在辐射应力作用下因发生总剂量效应而失效的失效率之和，λ_DD为所述相应组别中所有分析对象在辐射应力作用下因发生位移损伤效应而失效的失效率之和。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，预设层级中非计划中断短期硬失效组别、非计划中断长期硬失效组别或软失效组别的失效率λ_SEE通过下式计算：

λ_SEE＝λ_SEE-H+λ_SEE-P+λ_SEE-HN+λ_SEE-TN

其中，λ_SEE-H为相应组别中所有分析对象因重离子辐射应力导致发生单粒子效应而失效的失效率之和，λ_SEE-P为相应组别中所有分析对象因质子辐射应力导致发生单粒子效应而失效的失效率之和，λ_SEE-HN为相应组别中所有分析对象因高能中子辐射应力导致发生单粒子效应而失效的失效率之和，λ_SEE-TN为相应组别中所有分析对象因热中子辐射应力导致发生单粒子效应而失效的失效率之和。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

当所述预设层级为器件级时，第i组别中的每一电子器件在辐射应力作用下因发生总剂量效应而失效的失效率或因位移损伤效应而失效的失效率采用以下公式计算：

其中，λ_TID/DD-i为该电子器件在辐射应力作用下因发生总剂量效应而失效的失效率或因位移损伤效应而失效的失效率，T为该电子器件的使用寿命，Φ为第i组别中该电子器件在规定的任务轨道从0时刻到T时刻的累计失效概率；p_-TID/DD为该电子器件在总剂量效应影响下的生存概率或在位移损伤效应影响下的生存概率，R_{SPEC-TID/DD-dev(T)}为该电子器件在规定的任务轨道从0时刻到T时刻过程中抗总剂量效应的电离辐射总剂量要求或抗位移损伤效应的电离辐射总剂量要求，μ为该电子器件在地面试验中获得的平均抗辐射能力，σ为该电子器件的样品在地面试验中获得的抗辐射能力离散性。