[发明专利]由单粒子翻转率预计单粒子故障率的方法及系统有效
| 申请号： | 201510536364.6 | 申请日： | 2015-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN105718622B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅;陈宇 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 粒子 翻转 预计 故障率 方法 系统 | ||
1.一种由单粒子翻转率预计单粒子故障率的方法，其特征在于，包括：
S1、确定电子器件中每一功能模块的单粒子翻转率、时间降额因子及逻辑降额因子的大小，
其中，所述时间降额因子为在一个时钟周期内功能模块的单粒子翻转变化能够被记录的时长的比例，所述逻辑降额因子为所述功能模块内被记录的单粒子翻转变化导致该功能模块发生单粒子故障的概率，所述单粒子翻转变化指的是由单粒子翻转效应引起的状态的变化或跳变；
S2、根据相应功能模块的所述单粒子翻转率、所述时间降额因子及所述逻辑降额因子的大小，计算所述相应功能模块的单粒子故障率；
S3、将所述电子器件中所有功能模块的单粒子故障率之和作为所述电子器件的单粒子故障率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述步骤S2采用以下公式计算电子器件中第i个功能模块的单粒子故障率λSEE-i：
λSEE-i＝RSEE-i×TD-i×LD-i
其中，RSEE-i为第i个功能模块的单粒子翻转率，TD-i为第i个功能模块的时间降额因子，LD-i为第i个功能模块的逻辑降额因子。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述功能模块为状态存储模块或非状态存储模块。
4.一种由单粒子翻转率预计单粒子故障率的系统，其特征在于，包括：
确定模块，用于确定电子器件中每一功能模块的单粒子翻转率、时间降额因子及逻辑降额因子的大小，
其中，所述时间降额因子为在一个时钟周期内功能模块的单粒子翻转变化能够被记录的时长的比例，所述逻辑降额因子为所述功能模块内被记录的单粒子翻转变化导致该功能模块发生单粒子故障的概率，所述单粒子翻转变化指的是由单粒子翻转效应引起的状态的变化或跳变；
第一计算模块，用于根据相应功能模块的所述单粒子翻转率、所述时间降额因子及所述逻辑降额因子的大小，计算所述相应功能模块的单粒子故障率；
第二计算模块，用于将所述电子器件中所有功能模块的单粒子故障率之和作为所述电子器件的单粒子故障率。
5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，
所述第一计算模块采用以下公式计算电子器件中第i个功能模块的单粒子故障率λSEE-i：
λSEE-i＝RSEE-i×TD-i×LD-i
其中，RSEE-i为第i个功能模块的单粒子翻转率，TD-i为第i个功能模块的时间降额因子，LD-i为第i个功能模块的逻辑降额因子。
6.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述功能模块为状态存储模块或非状态存储模块。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司，未经北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510536364.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
