[发明专利]实验室装置中的RFID标签-读取器天线关联的方法

说明书

本发明涉及一种包括数量N个RFID读取器天线(10.1‑10.N)的实验室装置(1)中的用于将RFID标签与RFID读取器天线关联的方法，所述方法包括以下步骤：读取对应于数量M个RFID标签(20.1‑20.M)的每一个的唯一标识UID₁‑UID_M；由所述N个RFID读取器天线(10.1‑10.N)的每一个登记来自每个RFID标签(20.1‑20.M)的相应响应信号的接收信号强度指示RSSI.1.1‑RSSI.N.M；以及将每个RFID标签(20.1‑20.M)与已接收对应于所述RFID标签(20.1‑20.M)的最强接收信号强度指示RSSI.1.1‑RSSI.N.M的读取器天线(10.1‑10.N)关联。本发明也涉及配置成执行公开的方法的实验室装置(1)。

技术领域

本发明涉及一种实验室装置中的RFID标签-读取器天线关联的方法。本发明还涉及一种实验室装置，其配置成使用公开的方法将RFID标签与RFID读取器天线关联。

背景技术

为了增加诸如实验室装置的耗材的资源的跟踪能力的可靠性，光可读识别器(如条形码或QR码)正在由通过使用射频电磁场可读的识别器替换或补充。特别常见的是允许无线、非接触自动识别和数据捕获的射频识别RFID标签。

尽管RFID标签提供胜过光可读识别器的主要优点，如不需要识别器和读取器之间的直接视线，但是RFID技术也引入某些缺点/困难。一个这样的缺点是以下事实的结果：RFID读取器天线会与其范围内的所有RFID标签同时通信，并且因此它们的单独识别/定位不如光可读识别器那样直接。在诸如清单操作的一些情况下，这方面可能有问题，原因是将仅仅确定RFID标签的存在/缺失。

然而，在许多情况下寻址正确的识别器是很重要的，例如当物体的实际位置或其相对于RFID读取器天线的位置将被识别时。一个特定领域是使用RFID标签来识别诸如实验室装置的耗材的资源，其具有在资源的装载/保持/处理位置(如支架位置)处的多个RFID读取器天线。由于资源的这些装载/保持/处理位置通常相对于彼此相对紧靠地定位，因此与特定RFID读取器天线所处的位置相邻的位置的RFID的寻址是普遍关注的。解决该问题的一种已知方法是RFID读取器天线寻址在其附近的所有RFID标签并且将提供最强返回信号的RFID标签识别为紧邻RFID读取器天线定位的标签。

然而，经验表明该方法常常提供不满意的结果，即在一些情况下错误资源被识别为存在于特定装载/保持/处理位置。将两种不同耗材(如两种不同试剂)错误地识别为处于实验室装置中的特定位置的结果是非常严重的，这样的混合具有使整个分析批量无效的可能性，或者如果未辨认该混合，则由实验室装置报告假结果。

因此，公开的方法和/或装置的实施例旨在提供RFID标签与实验室装置中的RFID读取器天线的改善关联，并且特别地，旨在正确地识别具有它们的相应装载/保持/处理位置的实验室装置的资源。

发明内容

前述方法(即，寻址RFID读取器天线的附近的所有RFID标签并且将提供最强返回信号的RFID标签识别为紧邻读取器天线定位的标签)的不满意结果的主要原因，已被确定为从单独的RFID标签接收的信号的强度的变化。接收信号的强度的该变化是以下的一项或多项的结果：

-RFID标签，特别是不同类型的RFID标签，例如来自不同制造商、来自不同批次/版次/代次、材料和/或生产公差；

-RFID标签在其中操作的不同环境条件，例如，与液体接触，不同环境温度；可能影响其质量的RFID标签的不同年龄；

-影响射频信号的传输性的实验室装置的装载/保持/处理位置的物理环境，如金属的存在；

-RFID标签的集成电路ICs的不同批次/版次/代次、材料和/或生产公差；

-在其IC和RFID读取器天线之间具有错误/弱电接触的RFID标签。