[发明专利]克尔效应测量实验中入射光的调整装置及其调整方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学测量技术领域，特别是涉及一种克尔效应测量实验中入射光的调整装置及其调整方法。

背景技术

克尔效应测量高压电场，较之于其他高压电场测量方法，是一种有效的高压电场测量方法，电光场图测量法具有直观、安全、可靠的优点，又易于进行计算机信息处理。特别是采用光信号作为测量的媒介，排除了与高电压的直接联系，不仅安全而且易于进行自动控制和信号处理，应用于高压作用下的电场测量具有很大优势。但是传统的试验方法只能保证光线的顺利通过，不能进行入射角度的调整，无法保证每次实验入射光的入射角度一致，无法保证实验数据的真实性，容易产生实验偏差，最终导致高压电场测量数据失真。

发明内容

基于此，有必要提供一种克尔效应测量实验中入射光的调整装置及其调整方法，使入射光与固定介质垂直，保证每次实验入射光的入射角度一致，保证实验数据的真实性，减少实验偏差。

其技术方案如下：

一种克尔效应测量实验中入射光的调整装置，包括：箱体，所述箱体设有相对设置的第一安装通孔及第二安装通孔；第一透光件，所述第一透光件覆盖所述第一安装通孔，并密封固定于所述箱体中；第二透光件，所述第二透光件覆盖所述第二安装通孔，并密封固定于所述箱体中；及压紧装置，所述压紧装置与所述第二透光件相配合，密封所述第二安装通孔，所述压紧装置能够调节所述第二透光件的固定位置。

在其中一个实施例中，所述压紧装置用于调节所述第二透光件与所述第一透光件的平行度或间距。

在其中一个实施例中，所述压紧装置包括多个用于压紧所述第二透光件的旋紧件、设置于所述第二透光件边缘的密封圈；多个所述旋紧件沿所述第二透光件的边缘形状间隔设置于所述第二安装通孔及所述箱体之间；所述密封圈紧贴所述第二透光件，并密封固定于所述箱体中。

在其中一个实施例中，所述旋紧件设有压紧所述第二透光件的压紧部及螺纹杆，所述箱体设有多个与所述螺纹杆一一对应第一螺纹孔。

在其中一个实施例中，所述压紧装置还包括卡盘，所述卡盘设有卡固所述第二透光件的卡槽通孔，所述卡盘还设有与多个所述旋紧件一一对应的通孔，所述箱体设有与多个所述旋紧件一一对应的第二螺纹孔，所述卡盘通过与多个所述旋紧件配合将所述第二透光件固定在所述箱体上。

在其中一个实施例中，所述旋紧件为12个，12个所述旋紧件沿所述第二安装通孔的中心周向的0°、30°、45°、90°、135°、150°、180°、210°、225°、270°、315°、330°分布。

在其中一个实施例中，多个所述旋紧件沿所述第二安装通孔的中心的周向均匀设置。

在其中一个实施例中，所述密封圈的厚度为1-10mm，所述密封圈的压缩调节量为其厚度的1/3。

一种克尔效应测量实验中入射光的调整方法，包括权利要求1-6任一项所述克尔效应测量实验中入射光的调整装置；所述克尔效应测量实验中入射光的调整方法的步骤如下：

(1)光源发射器发射入射光至第一透光件，所述第一透光件接收第一入射光并反射第一前镜面反射光及第一后镜面反射光；

(2)检测所述第一前镜面反射光与所述第一后镜面反射光是否重合，如果否，则执行步骤(3)，如果是，则执行步骤(4)；

(3)若所述第一前镜面反射光与所述第一后镜面反射光不重合，调节光源发射器发射角度，直至所述第一前镜面反射光与所述第一后镜面反射光重合；

(4)若所述第一前镜面反射光与所述第一后镜面反射光重合，固定所述光源发射器的发射角度，所述入射光发射至第二透光件，所述第二透光件接收第二入射光并反射第二前镜面反射光及第二后镜面反射光；

(5)检测所述第二前镜面反射光与所述第二后镜面反射光是否重合，如果否，则执行步骤(6)，如果是，则完成此阶段入射光角度调整；

(6)若所述第二前镜面反射光与所述第二后镜面反射光不重合，调节压紧装置改变所述第二透光件与所述第一透光件的平行度，直至所述第二前镜面反射光与所述第二后镜面反射光重合。

在其中一个实施例中，在步骤(6)中包括：调节一个或多个旋紧件来改变密封圈的厚度，调节所述第二透光件与所述第一透光件的平行度，直至所述第二前镜面反射光与所述第二后镜面反射光重合。

在其中一个实施例中，在步骤(6)中包括：先调一个旋紧件，再调与所述旋紧件相邻的一个或多个旋紧件来改变密封圈的厚度，调节所述第二透光件与所述第一透光件的平行度或间距，直至所述第二前镜面反射光与所述第二后镜面反射光重合。