[发明专利]配件检测系统和方法

权利要求书

1.一种系统，包括：

配件检测装置，其包括：

比较器，其具有第一输入端和参考输入端，其中，所述第一输入端被配置成从移动装置配件接收移动装置配件信息；以及

开关，其被配置成接收表示移动装置配件连接到音频插孔的连接信息，所述开关具有第一状态和第二状态；

其中，所述开关被配置成在所述第一状态下将所述比较器的所述参考输入端连接到电源电压，并且在第二状态下使用所述连接信息将所述参考输入端与全部电源电压隔离开。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述开关被配置成在所述第二状态下将所述参考输入端接地。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述开关被配置成响应于所述连接信息指示所述移动装置配件未连接到所述音频插孔，将所述比较器的所述参考输入端与所述电源电压隔离开。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述开关被配置成响应于所述连接信息指示所述移动装置配件连接到所述音频插孔，将所述比较器的所述参考输入端连接到所述电源电压。

5.根据权利要求1所述的系统，包括移动装置，所述移动装置包括配件检测电路和所述音频插孔，

其中，所述音频插孔被配置成接纳所述移动装置配件的音频插头，并且

其中，所述比较器的第一输入端被配置成从所述音频插孔的数据端子接收移动装置配件信息。

6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述音频插孔包括配置成接收4极音频插头的4极音频插孔，所述4极音频插孔包括左音频端子、右音频端子、接地端子以及数据端子；

其中，所述连接信息不同于所述移动装置配件信息。

7.根据权利要求1所述的系统，包括集成电路，所述集成电路包含所述比较器和所述开关；

其中，所述系统包括位于所述集成电路之外的第一电阻器和第二电阻器，所述第一电阻器连接在所述比较器的所述参考输入端和所述开关之间，所述第二电阻器连接在所述比较器的所述参考输入端和接地连接之间。

8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述开关包括p沟道金属氧化物半导体场效应管PMOS装置，

其中，所述PMOS装置包括静电放电ESD PMOS装置，所述ESD PMOS装置的沟道宽度比沟道长度大至少500倍，且所述ESD PMOS装置的源极接点到栅极的间距和漏极接点到栅极的间距比沟道长度大至少3倍，以提供所期望的电流密度和ESD鲁棒性。

9.一种方法，包括：

接收表示移动装置配件连接到移动装置的音频插孔的连接信息；

在比较器的第一输入端处，从所述移动装置配件接收不同于所述连接信息的移动装置配件信息；

使用处于第一状态下的开关将所述比较器的参考输入端连接到电源电压，并且使用处于第二状态下的所述开关将所述比较器的所述参考输入端与全部电源电压隔离开；以及

使用所述连接信息来对所述开关的状态进行控制。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，使用处于第二状态下的所述开关将所述比较器的所述参考输入端与所述电源电压隔离开包括将所述参考输入端接地。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，对所述比较器的所述参考输入端进行隔离包括响应于所述连接信息指示所述移动装置配件未连接到所音频插孔。

12.根据权利要求9所述的方法，其中，响应于所述连接信息指示所述移动装置配件连接到所音频插孔，将所述比较器的所述参考输入端连接到所述电源电压。