[发明专利]荧光检测装置、被检物检测装置及荧光检测方法

权利要求书

1.一种荧光检测装置，包括：

光检测器，用于识别并检测出数种颜色；

过滤器部分，设于所述光检测器上，允许一定波长以上的波长域中含有的波长的光透过，切断小于所述一定波长的波长域中含有的波长的光，所述一定波长包含在所述光检测器具有灵敏度的波长域中；

照射部件，具有光源，并从所述光源向放在所述过滤器部分上的测定对象荧光物质照射峰值波长在小于所述一定波长的波长域内的激发光；

第一校正部件，对所述光检测器的输出信号进行伽马校正，以弥补在所述激发光照射下所述荧光物质发出的荧光中被所述过滤器部分切断的光的信号；

其中，所述光检测器、所述过滤器部分与所述照射部件沿所述光源的光轴排列配置。

2.根据权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于：

还包括图像处理装置和显示部件；

所述图像处理装置在所述显示部件显示根据所述第一校正部件校正的信号生成的荧光的图像。

3.根据权利要求1或2所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述光检测器具有：灵敏度在第一波长范围的第一光检测器、灵敏度在小于所述第一波长范围的第二波长范围的第二光检测器、以及灵敏度在小于所述第二波长范围的第三波长范围的第三光检测器；

所述一定波长是所述第三波长范围。

4.根据权利要求3所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述激发光的波长范围与所述第三波长范围重复。

5.根据权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于：

还包括第二校正部件，所述第二校正部件用于减少透过所述过滤器部分、并被所述光检测器检测出来的激发光。

6.根据权利要求5所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述第二校正部件对所述光检测器的输出信号进行补偿处理。

7.根据权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述过滤器部分为干涉过滤器，

所述照射部件对所述干涉过滤器照射垂直的平行光。

8.根据权利要求7所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述照射部件包括使所述激发光形成沿所述光源的光轴的平行光的准直光学系统。

9.根据权利要求8所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述照射部件具有发出波长比所述荧光物质的激发波长更长的光的其他光源。

10.根据权利要求8或9所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述干涉过滤器具有使所述荧光物质发出的荧光的透射率为所述照射部件照射的平行光透射率的90倍以上的光透射性。

11.根据权利要求4所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述激发光的峰值波长在300nm以上且小于450nm的范围内。

12.根据权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述一定波长在400nm以上且小于500nm的范围内。

13.根据权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述过滤器部分具有切断光的特性，使得小于所述一定波长的波长域中所含有的波长的光的透射率不足5%。

14.根据权利要求3所述的荧光检测装置，其特征在于：

所述第一光检测器的灵敏度在620nm以上且小于750nm，

所述第二光检测器的灵敏度在495nm以上且小于570nm，

所述第三光检测器的灵敏度在450nm以上且小于495nm。