[发明专利]液晶显示模组老化测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种液晶显示模组老化测试系统。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点，目前在平板显示领域占主导地位，液晶显示装置非常适合应用在台式计算机、掌上型计算机、个人数字助理(Personal Digital Assignment，PDA)、便携式电话、电视和多种办公自动化和视听设备中。

液晶显示模组是液晶显示装置的关键零部件之一，液晶显示器在出厂前，通常需要采用老化测试装置对液晶显示模组进行老化测试，老化测试是在高温下长时间(例如100小时)对液晶显示模组进行接通电源以显示图像后从而对液晶显示模组进行内建式自测试，以便于早期发现液晶显示模组的不良点，从而提升出货品质。目前液晶显示模组在老化测试过程中，首先需要老化测试装置给液晶显示模组提供初始化信息以对液晶显示模组进行初始化，再根据时序信息提供测试图像给液晶显示模组进行显示，以此来点亮液晶显示模组(即保证显示模组显示图像并正常工作)，再在测试过程中，判断所显示的图像是否正常，从而实现对液晶显示模组的老化测试。目前，与每一机种液晶显示模组相适配的初始化信息不相同，因此，无法共用一个老化测试装置点亮不同机种的液晶显示模组，即当液晶显示模组的机种变更后，需要重新烧录老化测试装置的初始化信息并进行上述点亮液晶显示模组的过程。现有的一种用于点亮MIPI(Mobile Industry Processor Interface，移动产业处理器)接口的液晶显示模组的老化测试装置如图1所示，图1所示的老化测试装置为设置于老化测试箱中的多个MIPI信号板10，每一MIPI信号板10上设置MCU12和接口13。并且每一液晶显示模组11的机种均不相同，每一MIPI信号板10均电性相连一种机种的液晶显示模组11。每个MIPI信号板10均是独立进行操作的，当需要点亮某一个机种的液晶显示模组11时，通过接口13将相应液晶显示模组11的初始化信息和时序信息传送给MIPI信号板10的MCU12，然后由MCU12将初始化信息和时序信息转化为MIPI信号后传送至相应的液晶显示模组11，以点亮相应的液晶显示模组11，再判断所显示的图像是否正常。上述老化测试装置存在以下问题：因不同机种液晶显示模组无法共用同一个老化测试装置，因此，液晶显示模组机种变更时，上述测试装置需要通过烧录等方式对相应MIPI信号板10烧录初始化信息和时序信息，当液晶显示模组数量较多时，需要烧录的工作量大，这样不仅导致大量的时间与人力、物力的耗费，而且效率很低，成本较高。另外，当有某一个液晶显示模组11未点亮时，则需要重新操作MIPI信号板对此液晶显示模组11进行上述点亮操作过程，由于上述操作过程比较复杂，并且还要在老化测试箱中进行操作MIPI信号板10，因此导致操作极其不便。

发明内容

本发明提供一种液晶显示模组老化测试系统，适用于不同机种的液晶显示模组，且效率较高。

所述技术方案如下：

本发明实施例提供了一种液晶显示模组老化测试系统，适于测试不同机种的液晶显示模组，其包括：下载器、与所述下载器相连的主控制板、与所述主控制板相连的多个子控制板，其中，所述下载器，用于接收多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述主控制板；所述主控制板，与所述下载器及每个子控制板相连，用于接收所述下载器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板；每一子控制板，与所述主控制板及多个液晶显示模组相连，用于接收到所述主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

在本发明的一个实施例中，下载器为MCU，所述经第一信号转换后的信号为MIPI信号。