[发明专利]一种光谱检测装置

权利要求书

1.一种光谱检测装置，其特征在于：包括：

雷射装置，用以提供一雷射光束，其中该雷射光束包括复数个连续的雷射脉冲；

分光装置，用以将该雷射光束分离为第一光束与第二光束，所述第一光束包括复数个连续的第一脉冲光束，所述第二光束包括复数个连续的第二脉冲光束，所述第二光束为传送至一样本以产生一光谱讯号；

光分析装置，用以接收该光谱讯号；

光学光闸，设置于光分析装置与样本之间，所述第一光束系用以驱动该光学光闸；

光路调整装置，设置于分光装置与光学光闸之间，用以调整第一光束自该分光装置至光学光闸的传送距离；

第一偏光元件，设置于样本与光学光闸之间；

第二偏光元件，设置于该光学光闸与该光分析装置之间；

其中，当光学光闸被驱动而于一预定时间区间开启时，光谱讯号通过第一偏光元件、光学光闸与第二偏光元件而传送至光分析装置；光谱讯号包括复数个连续的光谱脉冲讯号，预定时间区间包括复数个连续的次级预定时间区间，各次级预定时间区间系为不同，且光谱脉冲讯号系分别于次级预定时间区间通过光学光闸，光分析装置在次级预定时间区间接受该些光谱脉冲讯号。

2.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：所述光路调整装置包括复数个反射面，各反射面之间的距离为可调整。

3.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：所述光学光闸为一克尔光闸(Kerrgate)。

4.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：所述第一偏光元件与所述第二偏光元件为线性偏光镜，所述第一偏光元件与第二偏光元件的偏光角度相差90度。

5.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：还包括第一透镜，设置于第二光束自该分光装置至该样本的路径中，用以使第二光束聚焦于该样本之表面；第二透镜，设置于样本与光分析装置之间，用以收集光谱讯号；更包括：一滤光片，设置于光分析装置与样本之间，用以滤除光谱讯号以外之讯号。

6.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：所述雷射光束为一脉冲雷射，所述脉冲雷射的脉冲时间为1飞秒(femtosecond)至1奈秒(nanosecond)之间。

7.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于：所述光学光闸开启时间点与光谱讯号产生时间点具有一时间差，所述时间差为0至1微秒(microsecond)之间，且所述预定时间区间为1皮秒(picosecond)至1奈秒(nanosecond)之间。