[发明专利]一种测量氢‑氢J耦合常数的磁共振二维谱方法有效
申请号: | 201510473574.5 | 申请日: | 2015-08-05 |
公开(公告)号: | CN105092629B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 林雁勤;林良杰;曾庆;韦芝良;陈忠 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司35204 | 代理人: | 张松亭,姜谧 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 耦合 常数 磁共振 二维 方法 | ||
1.一种测量氢-氢J耦合常数的磁共振二维谱方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)采集待测样品的磁共振一维氢谱;
(2)测量样品的90度硬脉冲宽度;
(3)确定需要分析的氢核;
(4)将所述需要分析的氢核的共振频率作为180度软脉冲的中心频率,设置180度软脉冲的作用时间,使180度软脉冲不会激发到所述需要分析的氢核以外的信号,并测量180度软脉冲的功率;
(5)使用步骤(2)测得的90度硬脉冲作为脉冲序列的激发脉冲;
(6)将采样点设置在上述激发脉冲后的一个固定时间Δ,该固定时间Δ必须设置在信号的有效横向弛豫时间内,在保证信号强度的前提下,Δ的值尽可能大,以提高谱图间接维的数字分辨率ν1,ν1=1/t1max≥1/(2*Δ),其中,ν1为谱图间接维的数字分辨率,t1max为间接维演化时间t1的最大值;
(7)设置二维谱两维的采样谱宽和采样点数:直接(F2)维的谱宽要覆盖待测样品所有的共振峰,采样点数应保证采集到的信号衰减完全;间接(F1)维的谱宽应大于待测样品中存在的最大的氢-氢J耦合常数,采样点数要保证t1max不超过Δ;
(8)进行二维实验,随间接维演化时间t1的变化,使用所测得的180度软脉冲,在激发脉冲和采样点之间进行移动,形成与需要分析的氢核相关的J耦合在t1的演化,并采集磁共振二维谱;
(9)分析实验结果,测量与所述需要分析的氢核相关的氢-氢J耦合常数。
2.如权利要求1所述的一种测量氢-氢J耦合常数的磁共振二维谱方法,其特征在于:所述步骤(6)为:将采样点设置在上述激发脉冲后的一个固定时间Δ,并在该采样点之前施加一个与上述90度硬脉冲的功率相同的180度硬脉冲,用于重聚不均匀磁场对信号的散相作用。
3.如权利要求1所述的一种测量氢-氢J耦合常数的磁共振二维谱方法,其特征在于:所述步骤(8)为:进行二维实验,随间接维演化时间t1的变化,使用所测得的180度软脉冲,在激发脉冲和采样点之间进行移动,形成与需要分析的氢核相关的J耦合在t1的演化,同时在该180度软脉冲左右两边施加强度相同、方向相反的散相梯度对所述需要分析的氢核的本身的信号进行散相,并采集磁共振二维谱。
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