[发明专利]用于X射线荧光分析的手持设备和便携装置有效

专利信息
申请号: 201510458920.2 申请日: 2015-07-30
公开(公告)号: CN105319231B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: U·盖尔;B·南塞尔 申请(专利权)人: 赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李隆涛
地址: 德国辛*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 射线 荧光 分析 手持 设备 便携 装置
【说明书】:

发明涉及X射线荧光分析的手持设备以及便携装置,具有壳体和把手;壳体内的X射线荧光测量装置,其包含辐射源,主射束由辐射源通过出口窗照射于测量物体的测量表面;壳体上的检测器,其检测由测量表面发出的辅助辐射;在壳体内布置的数据处理装置,其控制至少一个显示器,显示器在壳体内设置或与壳体相连,出口窗在壳体的第一壳体区段的前侧端部上设置,至少一个定位元件在第一壳体区段上设置、配置给该出口窗,支承元件在壳体的至少一个附加的壳体区段上设置、距第一壳体区段上的出口窗一距离,手持设备借助于至少一个定位元件和支承元件在测量物体的测量表面上定位之后相对于其对正,手持设备在测量位置相对于测量表面自动地定位。

技术领域

本发明涉及用于X射线荧光分析的手持设备和便携装置。

背景技术

在多种工业生产的领域中,需要无接触地分析物体上的涂层和/或检测涂层的厚度。为此,大体上已知的是采用X射线荧光分析方法。在这种方法中,主射束从辐射源被引到测量物体上。由测量物体的测量表面发出的辅助射线被检测仪检测到并且传输至评价单元,以便例如确定层厚度和/或层的元素浓度。

为了执行X射线荧光分析方法,到目前为止所谓的台式设备已经被采用,由于这种设备的尺寸和重量,所以这种设备被永久地设立在确定的场所。

此外,由US2011/0142200A1已知用于实现X射线荧光分析的X射线测量装置,其包括突出部,用于将手持设备定位在靠近主射束的出口窗的测量物体上,所述突出部用于在测量物体上支承并且同时被形成为准直仪。这种手持设备的不足之处在于由此无法实现手持设备相对于测量物体的精确和限定的定位。

发明内容

本发明的目的在于提出一种具有X射线荧光测量装置的用于X射线荧光分析的手持设备以及能够作为一个单元运输的用于X射线荧光分析的便携装置,并且还涉及简单和可靠的搬运台式设备和手持设备的这两种形式。

该目的根据本发明通过用于X射线荧光分析的手持设备得以解决,所述手持设备包括具有把手的壳体以及在所述壳体内布置的X射线荧光测量装置,在其中,出口窗在壳体的第一壳体区段的前侧端部上设置,并且至少一个定位元件在第一壳体区段上设置、配置给该出口窗,并且至少一个支承元件在壳体的至少一个附加的壳体区段上设置、距出口窗一距离,手持设备借助于所述至少一个定位元件和所述至少一个支承元件在所述测量物体的测量表面上设定之后相对于所述测量表面对正,并且所述手持设备相对于测量表面独立地采取测量位置,并且相对于测量表面维持手持设备的测量位置。因此,限定的测量位置在测量物体上由手持测量设备无需附加单独工具地被采取。同时,手持设备独立地采取稳定位置。因此消除了测量期间由于改变测量设备相对于测量表面的位置和/或角度造成的损害。用于手持设备的附加的适配器或附件因此不再需要,这是因为手持设备独立地竖立在测量表面上并且在手持设备在测量物体的测量表面上定位之后仍相对于该测量表面对正。

优选地设置成,一个定位元件与两个支承元件形成了三点支承或者两个定位元件与一个支承元件形成了三点支承。因此,可以实现手持设备在测量物体上的稳定的布置和支承。例如,一个定位元件可以被形成为围绕出口窗延伸的表面。两个支承元件然后可以被形成为支架的形式或者被形成为棱柱或者被形成为彼此相距一距离的两个支承点、尤其是半球形等,并且可以在第二壳体区段上设置。用于形成三点支承的定位元件和支承元件的布置和设计也可以互换。基本上,替代性地,多个定位元件和/或支承元件也可以设置用于形成针对手持设备的自约束支承。

此外,优选地设置成,把手在第一壳体区段上设置并且至少一个附加的壳体区段连接至第一壳体区段和/或把手。因此,可以实现成,支承元件在附加的壳体区段上布置并且第二壳体区段直接连接至第一壳体区段或者把手,从而形成紧凑的壳体、尤其独立的壳体。

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