[发明专利]星载激光测高仪在轨检校方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及星载激光测高仪在轨标定技术领域，特别涉及一种基于自然地表测距残差的星载激光测高仪在轨检校技术方案，用于星载激光测高系统的在轨标定。

背景技术

星载激光测高仪是一种主动式的测量设备，具备波形记录和分析功能的激光测高仪通过采集激光测高仪的原始回波波形并提取波形的统计参量，结合测高仪的系统参数及位置姿态信息，能够有效地获取被测目标的高度分布及地表信息。

星载激光测高仪主要由三个部分组成，高精度定姿系统，高精度定位系统及测距系统。其测量原理如图1所示，其中采用Satellite表示卫星，Footprint表示脚点，X_ICRF、Y_ICRF、Z_ICRF分别为国际天球参考框架的X、Y、Z轴。实质上是利用矢量加法获得激光脚点的位置坐标，即通过测距系统测定卫星与目标表面的距离(ρ)，结合高精度定姿系统测得的激光指向角单位向量(u)得到测距矢量，进一步结合高精度定位系统测得的系统位置矢量(r)，生成激光脚点位置矢量(R)。

为了满足测高仪的科学测量目的，对测高系统的数据产品精度有着严格的要求。激光脚点三维坐标数据是星载激光测高系统的核心数据产品，其平面及高程精度受到系统误差的影响。由测高系统脚点定位原理可知，系统误差来自测高系统的高精度定姿系统，高精度定位系统及测距系统三个部分及三个部分系统误差的组合，其中主要系统误差为系统装配误差及测距误差。因此，要提高脚点定位精度，就必须对脚点定位过程中的系统误差进行有效的剔除，即进行在轨检校。

现有的检校方法有三种，一种是基于海洋扫描的测距残差分析方法，其原理是通过卫星平台在平静海面的姿态机动，对测高系统的测距观测值进行残差(测距模型距离解算值与测高系统距离实测值的差值)分析，达到检校指向角误差及测距误差的目的。该方法能对指向角误差进行统计分析，但需要用到星上数据及地表的先验知识。第二种是现场实时检校方法，其原理是通过独立的测量方式得到地表激光光斑的“坐标真值”，与测高系统测得的激光点坐标值进行比较，从而达到对指向角误差进行检校的目的。该方法测量光斑“坐标真值”的方式又分为两种，一种是在选定的标定场沿卫星地表轨迹布设探测器的方式，另一种是用机载相机对激光光斑成像的方式，两种探测方式各有利弊，前者不受实施时间及环境的限制，但需要对探测器进行设计及维护；后者能记录激光光斑能量分布，为回波波形参数提供参考，但需精确设定飞机过境检校场的时间，且实施时间限制在月亮处于地平线以下的夜间，避免噪声对相机成像的干扰。第三种是基于自然地物表面的检校方法，其原理是基于脚点定位方程及地表模型这两个空间关系，即脚点定位方程确定的脚点坐标满足地表模型方程。该方法对检校场的要求不再局限于平坦表面，而是自然地物表面，避免了载体平台的姿态机动，但需要已知地表的先验模型。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明提出一种基于自然地物表面测距残差分析的星载激光测高仪系统误差的在轨检校方法。

本发明的技术方案提供一种星载激光测高系统在轨检校方法，包括以下步骤：

步骤1、根据已知地表先验模型，建立星载激光测高仪的测距模型，实现如下，

所述地表先验模型采用面元先验模型，设面元先验模型为，

z＝ax+by+c

其中，(x,y,z)为平面上点的坐标，a、b分别为面元法向量的X及Y坐标，c为平面在Z轴上的截距；

设在站心坐标系下卫星位置坐标为(X_S,Y_S,Z_S)，激光测量参考坐标系由光学平台坐标系绕其X轴旋转角度r及Y轴旋转角度p得到，建立测距模型如下，

R＝(Z_S-aX_S-bY_S-c)(cos(r)cos(p)+asin(p)cos(r)-bsin(r))^-1+R_bias

其中，R为卫星激光测高系统的测距值，R_bias为测距误差；

步骤2、基于测距模型，建立系统误差与测距残差的关系如下，

其中，R_i为第i次测量时的R值，δR_i为第i次测量时的测距残差，dR_bias为测距误差，dr为指向角横滚方向误差，dp为指向角俯仰方向误差，e_i为第i次测量时的随机误差；