[发明专利]一种基于FPGA的并行结构Sinc插值方法

权利要求书

1.一种基于FPGA的并行结构Sinc插值方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一：将缓存采样点数据的RAM分割成独立的子块RAM，然后把采样点数据按一定顺序存储到子块RAM里；

步骤二：对截断Sinc函数加窗以降低吉布斯振铃效应，同时将Sinc插值核系数存放在ROM里；

步骤三：把输入浮点格式待插值点坐标转换成定点数，其整数部分为定位坐标，小数部分指定了Sinc系数偏移量，在同一个时钟节拍里取出一组样本数据和Sinc系数进行相乘后进入后续并行加法树得到插值结果；

步骤四：对于待插值点坐标超出采样样本的范围，或者待插值点位于样本边界，使用了两个标识信号指示这两种特殊情况，只要这两个标识其一有效，则把数据RAM的输出置零，并让其进入后续的乘法和加法模块；

步骤五：采样点数据和输入待插值点坐标均为浮点数格式；待插值点可以连续不断地输入，插值结果连续不断地输出；

所述步骤一中：缓存采样点数据的RAM分割成L个独立的子块RAM，L为插值核长度，按顺序把采样点数据每L个数据分为一组，每一组存储到L个子块RAM的相同地址位置；

所述步骤二中：将具有相同偏移量的一组Sinc插值核系数存放在L个ROM的相同地址位置；

所述步骤三中：定位坐标的前3个和后4个样本的分别落在L个子块RAM上，在同一个时钟节拍里取出这L个采样点与L个Sinc系数进行相乘，再经过log2(L)级并行加法树就能得到待插值点的插值结果。