[发明专利]一种测试光交换芯片模块性能的方法

权利要求书

1.一种测试光交换芯片模块性能的方法，包括以下步骤：

步骤1.初始化待测光交换芯片的开关单元配置状态：针对待测光交换芯片任一组指定待测输入、输出端口，“开”状态定义为待测输入端口与待测输出端口之间建立连通光路的状态，反之为“关”状态；同时定义“单端口输入”表示仅有待测输入端口输入光信号，“多端口输入”表示除待测输入端口外还有一个或一个以上输入端口输入光信号；同时，所有输入端口输入光信号为等功率的光信号；

步骤2.在“单端口输入”状态下，配置待测光交换芯片为“开”状态，测量得待测输出端口的输出光频谱曲线P₁(f)；再配置待测光交换芯片为“关”状态，测量得待测输出端口的输出光频谱曲线P₀(f)；并计算相应消光比曲线：ER_dB＝P_1dB(f)-P_0dB(f)，该消光比曲线以dB为单位，P_1dB(f)和P_0dB(f)分别由P₁(f)和P₀(f)单位转换得到；

步骤3.在“多端口输入”状态下，配置待测光交换芯片为“开”状态，测量得待测输出端口的输出光频谱曲线再配置待测光交换芯片为“关”状态，此时保持待测输出端口与所有输入端之间为“关”状态，测量得待测输出端口的输出光频谱曲线并计算相应消光比曲线：该消光比曲线以dB为单位，和分别由和单位转换得到；

步骤4.计算待测输入、输出端口在“关”状态下，待测输出端的输出光功率增益为：G0=P0m(f)P0(f);]]>

步骤5.计算待测输入、输出端口在“开”状态下，待测光交换芯片的串扰性能：CT_dB(f)≈10lg(G_0dB+ΔER_dB)-6.378，其中，G0dB=P0mdB(f)-P0dB(f),ΔERdB=ERdBm-ERdB.]]>

2.按权利要求1所述测试光交换芯片模块性能的方法，其特征在于，所述步骤2、3中测量待测输出端口的输出光频谱曲线的方法为：采用指定谱宽的宽谱光源，通过光谱分析仪一次获得频谱曲线；或者通过设置扫描激光器连续输出指定谱宽的光信号，利用光功率计接收每个频率分量的光功率，最后叠加得到频谱曲线。