[发明专利]一种AMOLED面板测试电路

说明书

本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路，通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。

技术领域

本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路。

背景技术

AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体，简称AMOLED)是目前普遍采用的显示发光设备，随着技术的发展，AMOLED技术逐步走向成熟，同时衍生出很多不同的版本，比如AMOLED、Super AMOLED、Super AMOLED Plus以及Super AMOLED Advanced等等。

随着AMOLED技术的成熟，AMOLED的成本逐步增加，测试，生产过程中的高效率测试变得尤为重要，及时测试问题及时解决，不仅提高产品的良率，同时节省了时间，提高了效率。

而目前的AMOLED中，面板显示测试电路和阵列基板测试电路是分开的：阵列基板测试电路是测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是测量切割成小显示测试电路后的性能。阵列基板测试电路是测量每一根数据线(data)的情况，而面板显示测试电路是测量相同信号(如单色的红或者绿)，采用shorting bar(图形产生器)的方式。而随着PPI(Pixels Per Inch，像所述)越来越高，而且采用rendering的方式，一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线(data line)的信号就是AC(Alternating Current，连续交流信号)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就驱动不了，而目前面板显示测试电路要绕到显示面板的尾端，所以走线阻抗很大，面对该问题，如何高效准确测试AMOLED显示面板成为本领域人员面临的一大难题。

发明内容

针对上述存在的问题，本发明提供了一种AMOLED面板测试电路，通过控制单元与数据线测试单元连接完成数据线测试单元的测试，并通过数据线测试单元与显示面板测试单元连接实现显示面板测试单元的测试，该技术方案具体为：

一种AMOLED面板测试电路，其中，所述AMOLED测试电路包括：

数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端耦合在一起，并且所述数据线输出模块中每个所述数据线的未与数据线输出模块中的其他数据线耦合在一起的一段用于提供输出数据；

第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；

第二测试单元，包括若干条输入信号线，每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。

上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出单元中的相邻两个数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接，且，

该晶体管位于第二测试单元中。

上述的AMOLED面板测试电路，其中，在第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段，第二测试单元的输入信号线的输出无效。

上述的AMOLED面板测试电路，其中，每个数据线输出模块中仅开启一个晶体管以使每个所述数据线输出模块中只提供一个输出数据。