[发明专利]半导体器件有效
| 申请号: | 201510413155.2 | 申请日: | 2015-07-14 | 
| 公开(公告)号: | CN105280690B | 公开(公告)日: | 2021-09-28 | 
| 发明(设计)人: | 土屋秀昭;木村央;井手隆;国宗依信 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 | 
| 主分类号: | H01L29/417 | 分类号: | H01L29/417 | 
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,其特征在于,
具有:
氮化物半导体层;
层间绝缘膜,所述层间绝缘膜位于所述氮化物半导体层上;
布线,所述布线位于所述层间绝缘膜上;
电极,所述电极与所述布线一体形成,且部分形成于所述布线的第1侧面上,而且在俯视下从所述第1侧面在第1方向上延伸;
凹部,所述凹部在俯视下位于与所述电极重合的区域上,且形成于所述层间绝缘膜中,下端抵达所述氮化物半导体层,且埋有所述电极的至少一部分;以及
阻障金属膜,所述阻障金属膜沿着所述凹部的底面及侧面、所述布线的底面以及所述电极的底面而形成,
其中,所述布线及所述电极含有铝,所述阻障金属膜含有钛,从所述第1方向看,所述凹部中的面向所述布线的侧面抵达所述布线的所述第1侧面,或者嵌入所述布线中,
具有:
第1晶体管,在俯视下,所述第1晶体管在与所述第1方向相交的第2方向上按顺序排列有漏极、栅极电极以及源极;
漏极垫,所述漏极垫在所述第2方向上延伸;
漏极电极,所述漏极电极从所述漏极垫沿所述第1方向延伸,且与所述漏极电连接;
源极垫,所述源极垫在所述第1方向上隔着所述漏极电极而与所述漏极垫相面对,且在所述第2方向上延伸;以及
源极电极,所述源极电极从所述源极垫朝向所述漏极垫侧在所述第1方向上延伸,且与所述源极电连接,
其中,所述布线及所述电极分别为所述源极垫及所述源极电极,
具有:
第2晶体管,所述第2晶体管在俯视下在所述第2方向上按与所述第1晶体管相反的顺序排列有漏极、栅极电极、及源极,且所述第2晶体管的所述源极和所述第1晶体管的所述源极与同一个所述源极电极电连接;以及
栅极布线,所述栅极布线在俯视下与所述漏极电极相比位于所述源极垫侧,且连接所述第1晶体管的所述栅极电极和所述第2晶体管的所述栅极电极,
其中,在俯视下,所述凹部被夹在所述第1晶体管的所述栅极电极与所述第2晶体管的所述栅极电极之间,而且,所述凹部与所述栅极布线相比位于所述漏极垫侧,所述栅极布线、所述第1侧面、及所述源极电极按顺序排列在所述第1方向上,
所述凹部在俯视下不与所述栅极布线重合。
2.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,
所述源极电极的宽度比所述漏极电极的宽度大。
3.如权利要求2所述的半导体器件,其特征在于,
在俯视下,所述源极电极与所述栅极电极的至少一部分重合。
4.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,
所述阻障金属膜为由钛构成的单层膜。
5.如权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,
所述阻障金属膜与所述电极之间,不具有由氮化钛构成的膜。
6.如权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,
所述阻障金属膜与所述电极直接连接。
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