[发明专利]用于非接触式角度测量的设备和方法有效
| 申请号: | 201510404795.7 | 申请日: | 2015-07-10 |
| 公开(公告)号: | CN105258633B | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
| 发明(设计)人: | 大卫·缪瑟 | 申请(专利权)人: | TDK-Micronas有限公司 |
| 主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30 |
| 代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 董巍;谢栒 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 霍尔传感器 永磁体 非接触式测量 非接触式 角度测量 圆形路径 辅助的 整除 总计 | ||
说明了用于非接触式测量旋转角度15的设备10。具有多个极的永磁体60安装在轴的前面,其中极的数量总计为四个或更多,并且不能被三整除。在永磁体60下方的平面中,至少三个第一横向霍尔传感器40a‑c位于圆形路径50中。还说明了由横向霍尔传感器40a‑40c辅助的用于计算旋转角度15的方法。
技术领域
本发明涉及用于非接触式测量旋转角度的设备和方法。
背景技术
由霍尔效应辅助地非接触式测量旋转角度是已知的。例如,由雷蒙德,S.(Reymond,S.)及其他人在电气与电子工程师协会(IEEE)传感器2007年会议的出版物“纯二维互补金属氧化物半导体(CMOS)集成霍尔传感器”的第860-863页教导了一种用于非接触式旋转角度测量的设备。该设备具有半导体衬底,该半导体衬底中集成了所谓的垂直霍尔传感器形式的64个磁场传感器。此出版物中的这些磁场传感器以相等的间隔设置在置于半导体衬底的芯片平面的圆形的路径上。这些磁场传感器所在的竖直平面围绕假想的中心轴线沿径向设置,该假想的中心轴线延伸通过圆形路径的中心并与芯片平面正交。这些磁场传感器连接至扫描装置,使得独立的磁场传感器的测量信号可顺序地连接至用于旋转扫描信号的微分输出连接器。因此,磁场传感器的值以循环旋转的方式读取。
第EP2149797号欧洲专利(Micronas股份有限公司)公开了一种用于测量角度的设备,该设备中磁场设置在平面中。该设备具有至少两个磁场传感器,该至少两个磁场传感器设置为其测量轴线在平面中和/或平行于平面,并且取向为彼此横切。
梅茨(Metz)及其他人在1997年6月16-19日在芝加哥召开的固态传感器和致动器1997年国际会议的出版物换能器(Transducers)的“在单个芯片上使用四个霍尔装置的非接触式角度测量”中也说明了非接触式旋转角度测量。此出版物示出了四个横向的霍尔传感器,该四个横向的霍尔传感器与另一个霍尔传感器相等间隔地设置在置于半导体衬底的芯片平面中的圆形路径上。具有两个磁极的永磁体接附在旋转轴的端部,并在霍尔传感器中产生磁场。第EP-B0916074号欧洲专利文件中说明了相同的设备。
现有技术设备的共同之处在于,永磁体安装在可旋转元件上,并生成由霍尔传感器所捕获的磁场。这种设备的问题在于霍尔传感器周围的磁干扰场。处理信号的处理器需要进行对从霍尔传感器接收的测量值的补偿,以对这些磁干扰场进行补偿。对于均匀背景场来说,此补偿可以以相对简单的样式实现。对于由相邻导体中的电流所生成的磁场的补偿更为复杂,因为该补偿还必须考虑所生成的磁场的场梯度。
现代汽车具有导致这种磁场的多个载流导体。对旋转角度测量装置附近的这些磁干扰场进行完全的屏蔽是不可能的。
发明内容
本说明书中公开了用于非接触式测量旋转角度的设备,该设备使用用于补偿磁干扰场的新方法。该设备包括具有偶数个极的永磁体和设置在永磁体下方的平面中的至少三个第一横向霍尔传感器。在本发明的一个方面中,永磁体具有多个极,其中所述极的数量总计为四个或更多,并且不能被三整除。该永磁体围绕旋转轴线旋转,其中该旋转轴线的方向延伸通过圆形路径的圆心,并且设置为大致与该平面正交。
由于高信噪比、对来自霍尔传感器的测量信号的简单的数字处理,以及对由磁干扰场导致的不精确性的广泛消除,此设备使得可以精确地测量角度。
在本发明的另一个方面中,至少三个第一横向霍尔传感器大致以相等角度设置在圆形路径中。因此,该设备具有匀称设计,并且便于对从霍尔传感器接收的测量信号的处理。在本发明的又一个方面中,至少两个第二横向霍尔传感器与第一横向霍尔传感器中的两个相对地设置在圆形路径中。通过使用相对的霍尔传感器,现在可以计算磁干扰场的场梯度,并且很大程度上消除场梯度,以改进测量旋转角度的精度。
还公开了用于非接触式测量旋转角度的方法。该方法包括以下步骤:
·用永久磁体生成待测量的旋转角度下方的磁场;
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