[发明专利]用于能量存储器件的纳米结构电极及具有该电极的赝电容在审

专利信息
申请号: 201510403343.7 申请日: 2015-07-11
公开(公告)号: CN105023761A 公开(公告)日: 2015-11-04
发明(设计)人: 徐苗;李洪濛;李民;陈子凯;彭俊彪 申请(专利权)人: 广州新视界光电科技有限公司
主分类号: H01G11/26 分类号: H01G11/26;H01G11/28;H01G11/86
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 赵蕊红
地址: 510730 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 能量 存储 器件 纳米 结构 电极 具有 电容
【权利要求书】:

1.一种用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:具有互导互联的金属纳米结构的引出电极,所述引出电极表面包覆有活性层。

2.根据权利要求1所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:还设置有修饰层,所述修饰层设置于所述引出电极表面与所述活性层之间。

3.根据权利要求2所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述引出电极为金属纳米线。

4.根据权利要求3所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述金属纳米线的直径为5 nm~500 nm,长度大于5 um。

5.根据权利要求4所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述活性层的厚度设置为1 nm~1000 nm,所述活性层由一层或者多层子活性层叠设而成,所述子活性层的材料为过渡金属氧化物、导电聚合物或者复合赝电容材料中的任意一种;

作为子活性层的过渡金属氧化物具体为RuO2、MnO2、In2O3、MoO3、CuO、V2O5或者TiO2中的任意一种或者一种以上的组合;

作为子活性层的导电聚合物具体为聚苯胺、聚吡咯、聚噻吩、聚乙烯醇/H3PO4或者聚氧化乙烯/LiClO4中的任意一种或者一种以上的组合;

作为子活性层的复合赝电容材料具体为碳/金属氧化物材料、碳/导电聚合物材料或者碳/氧化还原电对材料中的任意一种或者一种以上的组合;

     所述碳/金属氧化物材料具体包括:CeO2/石墨烯或者MnO2/碳纳米管;

     所述碳/导电聚合物材料具体包括:聚噻吩/碳纳米管、聚苯胺/石墨烯、聚吡咯/碳纳米卷或者聚苯胺/碳纳米卷;

     所述碳/氧化还原电对材料具体包括:NaI/I2掺杂AC/PEO/LiAlO2

6.根据权利要求2所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述修饰层的厚度为0.1 nm~10 nm。

7.根据权利要求6所述的用于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述修饰层由一层或者多层子修饰层叠设而成,所述子修饰层的材料为金属氧化物、金属氮化物或者金属氟化物,具体包括:MgO、ZnO、CsO、TiN、MoN、LiF或者CsF。

8.根据权利要求1所述的于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述纳米电极通过如下步骤方法制备:

(1)使用溶液加工法在柔性衬底上制备金属纳米线薄膜,金属纳米线薄膜中的金属纳米线呈交错分布的互导互联结构;

(2)使用ALD方法在金属纳米线上制备一层或多层活性层薄膜。

9.根据权利要求2所述的于能量存储器件的纳米结构电极,其特征在于:所述纳米电极通过如下步骤方法制备:

(1)使用溶液加工法在柔性衬底上制备金属纳米线薄膜,金属纳米线薄膜中的金属纳米线呈交错分布的互导互联结构;

(1-2)使用ALD方法在金属纳米线上制备一层或多层子修饰层薄膜形成修饰层;

(2)使用ALD方法在修饰层薄膜上制备一层或多层子活性层薄膜构成整体活性层。

10.一种赝电容,其特征在于:具有电解质、隔膜以及如权利要求1至9任意一项所述的纳米结构电极。

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