[发明专利]一种精密玻璃定栅测试机有效
申请号: | 201510385201.2 | 申请日: | 2015-07-03 |
公开(公告)号: | CN104991103B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 唐国宏 | 申请(专利权)人: | 柳州利元光电技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R31/02 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 姜万林 |
地址: | 545402 广西壮族自*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 玻璃 测试 | ||
本发明公开了一种精密玻璃定栅测试机,包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构,与所述电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器,以及与所述多个比较放大器连接的单片机。本发明所述精密玻璃定栅测试机,可以克服现有技术中稳定性差、精度低和成本高等缺陷,以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。
技术领域
本发明涉及机械技术领域,具体地,涉及一种精密玻璃定栅测试机。
背景技术
精密玻璃定栅是量具上的数显读数硼硅玻璃材质的标准 尺,它具有精度高,读数稳定,热稳定性好,不受气候影响,国际领 先水平。
精密玻璃定栅有数百到数千个传感电极单元,电极厚度小(约300纳米),电极间距小(几微米--几十微米),连线细(几微米--几十微米),容易出现电极间粘连、微短路,会造成量具读数精度下降不稳定。
原有方法:1、用显微镜分别检查每个传感电极单元,2、分别测相邻电极间、电极连线电阻值。两种方法效率极低,对微连接(相邻电极间导电膜刻不完全的)容易出现误判,客户使用产品上线合格率低,生产成本高。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术中至少存在稳定性差、精度低和成本高等缺陷。
发明内容
本发明的目的在于,针对上述问题,提出一种精密玻璃定栅测试机,以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种精密玻璃定栅测试机,包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构,与所述电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器,以及与所述多个比较放大器连接的单片机。
进一步地,所述电极检测机构,包括能够吸附待测玻璃板的平台,在所述平台上并行设置有用于吸附多个待测玻璃板的多个检测区域,在所述多个检测区域的相同端部设有用于压盖在多个待测玻璃相同端部的绝缘板,以及在所述绝缘板上固定设置有与每个待测玻璃板所处位置相匹配的多个探针。
进一步地,在所述绝缘板与待测玻璃板之间,还设有靠近待测玻璃板的产品切割线设置的膜板,以及设在所述膜板上的电极层;
同一检测区内数条探针,分别与带相应电压的比较放大器的输入端连接;每个待测玻璃板被吸牢在平台上,每个探针分别对准待检测玻璃板在相应检测区域的起点位置、并下压至可靠接触玻璃表面;平台开始滑动直到相应检测区域末端,该检测区域所有相邻电极间当相应探针测试到预设次数时相应电极间出现电极间粘连和/或微短路现象时,比较放大器输入端出现电压变化,比较放大器输出端有输出,单片机记录比较放大器输入端出现电压变化时相应检测区域中的相应位置,筛选出相应待测玻璃板。
进一步地,所述电极层包括与多个检测区域匹配设置的多个SEG层,以及设在每个SEG层中的AB层;所述多个探针在绝缘板上的位置靠近AB层设置。
进一步地,所述平台,具体为能够直线滑动的真空平台。
本发明各实施例的精密玻璃定栅测试机,由于包括能够在多个检测区域内对多个待测玻璃同时进行检测的电极检测机构,与电极检测机构中每个检测区域的输出端匹配连接的多个比较放大器,以及与多个比较放大器连接的单片机;从而可以克服现有技术中稳定性差、精度低和成本高的缺陷,以实现稳定性好、精度高和成本低的优点。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
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