[发明专利]恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪

权利要求书

1.恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述原子荧光光谱仪包括：

环形磁钢；

置于环形磁钢中心的锐线光源；

旋转偏振棱镜，所述旋转偏振棱镜处于锐线光源光束传播光路上；

原子荧光原子化器，所述原子荧光原子化器置于旋转偏振棱镜输出光路上；

检测处理单元，所述检测处理单元控制旋转偏振棱镜，并采集原子荧光原子化器的产生的原子荧光，进行校正处理。

2.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述原子荧光光谱仪中还包括第一会聚透镜，所述第一会聚透镜置于旋转偏振棱镜前，并位于锐线光源传播方向上，将锐线光源辐射光束汇聚成平行光，并传输至旋转偏振棱镜。

3.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述原子荧光光谱仪中还包括第二会聚透镜，所述第二会聚透镜置于原子荧光原子化器和旋转偏振棱镜之间，将旋转偏振棱镜输出的光束汇聚到原子荧光原子化器上。

4.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述原子荧光光谱仪中还包括第三会聚透镜，所述第三会聚透镜置于原子荧光原子化器和检测处理单元的检测端之间，将原子荧光原子化器产生的原子荧光汇聚到检测处理单元的检测端。

5.根据权利要求4所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述第三会聚透镜与原子化器的连线与于入射光的方向成0-120度夹角。

6.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述环形磁钢采用基于海尔巴赫结构的环形磁钢。

7.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述锐线光源采用空心阴极灯或者无极放电灯。

优选的，所述锐线光源的发光部位在磁钢的磁场几何中心，光源锐线辐射在磁场作用下发生塞曼分裂，分裂成偏振方向平行于磁场、波长不发生偏移的P_平行部分和偏振方向垂直于磁场、波长发生偏移的P_垂直部分。

8.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述旋转偏振棱镜通过转动将光源辐射的P_平行部分和P_垂直部分交替通过。

9.根据权利要求1所述的恒定磁场置于光源的偏振调制塞曼原子荧光光谱仪，其特征在于，所述检测处理单元包括：

光电检测器，所述光电检测器作为检测处理单元的检测端，接受原子化器产生的原子荧光并将其转换为电信号；

前置放大器，所述前置放大器与检测器输出端相连接，将转换的光电信号进行放大；

A/D变换器，所述A/D变换电路将经前置放大后的光电信号转换成数字信号；

微处理器，所述微处理器控制旋转偏振棱镜与前置放大器之间同步，并对经A/D变换器转换的数字信号进行处理实现光散射和杂散光的校正。