[发明专利]电子元件分选方法及装置

说明书

本发明揭示一种电子元件分选方法及装置，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构，其设有水平设置的转轴，转轴一端设一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；一分配座，设有多个分配管分别接设收集容器；该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。

【技术领域】

本发明是有关于一种分选方法及装置，尤指一种对电子元件进行检测其物理特性后予以分选分类的电子元件分选方法及装置。

【背景技术】

按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，该多个被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。

先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集；但由测盘进入各不同管路前，需经由一分选机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分选机构常采用一表面开有多数孔道的凹球形分配盘，并以一位于凹球形分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。

【发明内容】

然而，分选机构采用表面开有多数孔道的凹球形分配盘，由于凹球形本身为一三度空间的立体位移空间，其凹球形的真圆度加工精度必须非常高，否则分配头与其表面各孔道间发生余隙，容易使体积极为微细的受检测元件漏出或卡料，同时用以操作分配头的驱动机构要使其在凹球形的三度空间立体表面作位移，其机构的复杂性与精度也相对较高，相对使成本增加；另一方面，由于一般进行检测分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管等，其通常具有相当程度的粉尘，该多个粉尘容易随着大量的检测输送过程而掉落于分选机构中，并嵌塞于分配头与分配盘的凹球形表面间造成卡料。

爰是，本发明的目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选方法。

本发明的另一目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选装置。

本发明的又一目的，在于提供一种使分选机构避免沾附粉尘线的电子元件分选装置。

本发明的再一目的，在于提供一种用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。

依据本发明目的的电子元件分选方法，用以将完成检测的受测组件进行分类，包括：使一分配头与一受测组件的排出管路连结；使一分配座上设置多个分配管；操作分配头摆移，以令管路中的受测元件被卸放至预定的分配管中被排放收集；该分配座设有三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管上方端口呈凹弧状平面排列布设；该分配头受一转轴操作而作上、下的弧形摆移，并可沿该转轴轴向配合前、后的水平直线滑移。

依据本发明目的的另一电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：使一拨架上的分配头受一转轴驱动作间歇性旋摆运动；使分配头与一受测元件的排出管路连结；借所述间歇性旋摆运动，以令管路中的受测元件被卸放至一分配座上预定的分配管中被排放收集；该分配座设有三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管上方端口呈凹弧状平面排列布设；驱动拨架上的分配头作间歇性旋摆运动的该转轴同时可沿该转轴轴向作间歇性水平直线运动。