[发明专利]硅基低漏电流悬臂梁栅金属氧化物场效应晶体管或非门有效

专利信息
申请号: 201510379527.4 申请日: 2015-07-01
公开(公告)号: CN105024649B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 廖小平;陈子龙 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H03D7/16 分类号: H03D7/16
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 代理人: 杨晓玲
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 硅基低 漏电 悬臂梁 金属 氧化物 场效应 晶体管 非门
【权利要求书】:

1.一种硅基低漏电流悬臂梁栅金属氧化物场效应晶体管或非门,其特征在于该或非门由两个悬臂梁栅NMOS管即第一NMOS管(1)和第二NMOS管(2)以及一个负载电阻(3)组成,两个NMOS管的源极连接在一起共同接地,漏极也连接在一起随后通过负载电阻(3)与电源电压相连接,两路输入信号A、B分别在两个NMOS管的栅极上输入,输出信号在两个NMOS管的漏极和负载电阻(3)之间输出;引线(4)用Al制作,NMOS管的栅极悬浮在二氧化硅层(5)的上方形成悬臂梁栅(6),悬臂梁栅(6)的一端固定在锚区(7)上,另一端悬浮在二氧化硅层(5)的上,锚区(7)用多晶硅制作在二氧化硅层(5)上,N+有源区(8)是NMOS管的源极和漏极,源极和漏极通过通孔(9)与引线(4)连接,下拉电极(10)在悬臂梁栅(6)下的部分被二氧化硅层(5)覆盖,整个或非门电路制作在P型硅衬底(11)上。

2.根据权利要求1所述的硅基低漏电流悬臂梁栅金属氧化物场效应晶体管或非门,其特征在于所述的NMOS管的悬臂梁栅(6)的下拉电压设计的与NMOS管的阈值电压相等,只有当NMOS管的悬臂梁栅(6)上所加的电压大于NMOS管的阈值电压时,其悬臂梁栅(6)才能下拉并接触二氧化硅层5从而使悬臂梁栅NMOS管反型导通,当所加电压小于NMOS管的阈值电压时悬臂梁栅(6)就不能下拉,当该或非门在输入信号的作用下处于工作态时,两个NMOS管就在导通或者截止状态之间变化,当NMOS管处于关断态时其悬臂梁栅(6)就处于悬浮态,使或非门具有较小的直流漏电流。

3.根据权利要求1所述的硅基低漏电流悬臂梁栅金属氧化物场效应晶体管或非门,其特征在于该或非门负载电阻(3)的阻值设置为当其中任意一个NMOS管导通时,相比于导通的NMOS管,该负载电阻(3)的阻值足够大可使得输出为低电平,当两个NMOS管都不能导通时,相比于截止的NMOS管,该电阻的阻值足够小可使得输出为高电平。

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