[发明专利]一种利用光纤束实现图像切割的快照式高光谱成像系统在审

专利信息
申请号: 201510377107.2 申请日: 2015-07-01
公开(公告)号: CN104990626A 公开(公告)日: 2015-10-21
发明(设计)人: 国宏伟;王慧捷;王洋;李奇峰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李林娟
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 光纤 实现 图像 切割 快照 光谱 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种利用光纤束实现图像切割的快照式高光谱成像系统,包括:会聚透镜、光纤束、分光仪和阵列式检测器,其特征在于,

所述光纤束、所述分光仪和所述阵列式检测器构成一条高光谱成像通道;所述被测目标通过所述会聚透镜成像在所述光纤束的入口处,入口处光纤呈环形结构排列;

所述光纤束切割通过所述会聚透镜采集的所述被测目标的图像,不同区域的光束入射到所述光纤束的不同光纤内;

所述光纤束出口处光纤呈线形结构排列,与所述分光仪的狭缝形状相匹配;

所述分光仪对经过狭缝入射的光束进行分光,使得不同频率的光束入射到所述阵列式检测器的不同位置,所述阵列式检测器将光信号转换成电信号,记录光谱强度信息。

2.根据权利要求1所述的一种利用光纤束实现图像切割的快照式高光谱成像系统,其特征在于,所述光纤束为多模光纤束。

3.根据权利要求1所述的一种利用光纤束实现图像切割的快照式高光谱成像系统,其特征在于,所述阵列式检测器为互补金属氧化物半导体检测器或电荷耦合元件检测器。

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