[发明专利]电容屏测试卡、测试系统

说明书

本发明公开了一种电容屏测试卡，包括第一接口和第二接口，所述第一接口与数据终端连接，第二接口与电容屏各线路管脚连接；所述电容测试卡上还设有处理单元、线路切换/采集单元以及存储单元，所述线路切换/采集单元用于切换电容屏测试卡的导通引脚，同时切换电容屏测试卡的参数采集点，并将采集点采集的数据传给处理单元；所述处理单元根据所采集的数据进行相应的运算处理，获得电容屏相应线路上的参数，并将该参数通过第一接口发送至数据终端。本发明还公开了一种电容屏测试系统。本发明可根据数据终端配置的管脚映射表，控制相应的电容屏线路导通以及控制相应的测试点接入采集单元，从而使得该电容测试卡可适用于绝大多数电容屏的测试。

技术领域

本发明涉及触摸屏测试领域，尤其涉及电容屏测试卡及测试系统。

背景技术

随着电子技术以及移动互联网技术的飞速发展，电容屏在越来越多领域普及，对其外形尺寸，触摸响应速度、精度、稳定度等要求越来越高，质量测试指标也越来越苛刻。

传统的电容屏测试方法几乎都使用读取控制IC读数的方式。该方法参数读取不够精确，同一矩阵不同节点参数的归一化差，难以设置判断标准，误差率高。IC的测试方法不能精确分辨故障原因(如节点电容、线电阻、通道间绝缘电阻等)。不同种类的产品需要更换IC测试板，使用不方便。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电容屏测试卡及测试系统，旨在解决现有技术的电容屏测试方法使用不方便的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种电容屏测试卡，包括第一接口和第二接口，所述第一接口与数据终端连接，第二接口与电容屏各线路管脚连接；所述电容测试卡上还设有处理单元、线路切换/采集单元以及存储单元，所述线路切换/采集单元用于切换电容屏测试卡的导通引脚，同时切换电容屏测试卡的参数采集点，并将采集点采集的数据传给处理单元；所述处理单元根据所采集的数据进行相应的运算处理，获得电容屏相应线路上的参数，并将该参数通过第一接口发送至数据终端。

优选地，所述线路切换/采集单元包括切换开关、采集单元以及多个测试点；所述测试点设置在电容屏的各线路上，所述切换开关用于控制相应的测试点接入采集单元。

优选地，所述采集单元包括电源以及标准电阻、两个检测端口；所述测试点包括第一测试点、第二测试点；其中第一测试点一端与电容屏驱动线路引脚连接；第二测试点的一端对应与电容屏数据线路引脚连接，第一测试点的另一端和第二测试点的另一端对应与采集单元的两个检测端口连接。

优选地，所述采集单元对于电阻的测试范围为0～1000M欧姆，而且不同量程测试指标为0.01％～1％。电容的测试范围为0～500pf，不同量程测试指标为0.005％～0.3％。

优选地，所述采集单元采用高速ADC采集芯片对电容屏各线路的电阻或电容进行检测，并将检测值进行模数转换后，发送至数据终端。

优选地，所述电容屏测试卡通过第一接口接收数据终端发送的管脚映射配置信息，并存储；所述选通单元在接收到数据终端发送的数据检测指令时，根据所述管脚映射配置信息，控制与所述数据检测指令对应的导通线路导通。

此外，为实现上述目的，本发明还提供了一种电容屏测试系统，包括数据分析装置和电容屏测试卡；所述电容屏测试卡分别于数据分析装置和电容屏测试卡连接，所述电容屏测试卡包括上述电容屏测试卡。

优选地，所述数据分析装置用于配置与电容测试卡连接的电容屏的管脚映射配置信息；

所述电容屏测试卡用于接收数据分析装置发送的管脚映射配置信息，并存储；还用于在接收到数据终端发送的数据检测指令时，根据所述管脚映射配置信息，控制电容屏测试卡中与所述数据检测指令对应的导通线路导通。

综上，本发明应用上述电容测试卡以及数据分析装置进行电容屏参数测试的方案，相对于现有技术具有以下优点：