[发明专利]具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法

权利要求书

1.一种具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法，其特征在于，包括以下步骤：

利用补偿矩阵对每次拍摄的图像进行背光补偿，其中，空间光调制器位于暗室中；

采集多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像，利用采集的多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像，计算每种颜色图像的近似正太分布图样的强度分布，对每个发光单元，如果发光单元在颜色图像中的强度超过强度分布范围，就判定发光单元为缺陷点，来完成训练分类器，以及根据颜色强度均值记录5维的标准颜色强度向量，其中，多种颜色图像为每张图像只具有一种颜色且图像之间颜色不同的多张图像；

采集待检测空间光调制器的多种颜色图像，如果发光单元中的强度超过强度分布范围，并且发光单元的强度向量与标准颜色强度向量相关性较弱，则判定发光单元为缺陷点；

利用数字来表示发光单元的颜色强度在近似正太分布图样的颜色强度分布中的范围：-1表示超出此种颜色分布的6-Sigma下限，0表示位于此种颜色分布的6-Sigma范围内，1表示超出此种颜色分布的6-Sigma上限，并利用1表示与标准颜色强度向量相关性强，0表示相关性弱。

2.根据权利要求1所述的具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法，其特征在于，所述暗室中的照度低于10Lux。

3.根据权利要求1所述的具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法，其特征在于，利用数字相机采集多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像和待检测空间光调制器的多种颜色图像。

4.根据权利要求1所述的具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法，其特征在于，多张颜色图像为每张图像只具有红、绿、蓝、白、黑五种颜色中一种的多张颜色图像。

5.一种具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类装置，其特征在于，包括：

补偿模块，用于利用补偿矩阵对每次拍摄的图像进行背光补偿，其中，空间光调制器位于暗室中；

训练模块，用于采集多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像，利用采集的多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像，计算每种颜色图像的近似正太分布图样的强度分布，对每个发光单元，如果发光单元在颜色图像中的强度超过强度分布范围，就判定发光单元为缺陷点，来完成训练分类器，以及根据颜色强度均值记录5维的标准颜色强度向量，其中，多种颜色图像为每张图像只具有一种颜色且图像之间颜色不同的多张图像；

分类模块，用于采集待检测空间光调制器的多种颜色图像，如果发光单元中的强度超过强度分布范围，并且发光单元的强度向量与标准颜色强度向量相关性较弱，则判定发光单元为缺陷点，以及利用数字来表示发光单元的颜色强度在近似正太分布图样的颜色强度分布中的范围：-1表示超出此种颜色分布的6-Sigma下限，0表示位于此种颜色分布的6-Sigma范围内，1表示超出此种颜色分布的6-Sigma上限，并利用1表示与标准颜色强度向量相关性强，0表示相关性弱。