[发明专利]一种阵列基板及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体加工领域，具体说涉及一种阵列基板及其制造方法。

背景技术

随着液晶显示屏制造技术的发展，当前越来越多的阵列基板使用了彩色滤光片集成技术(Color-filteronArray，COA)。COA技术是将彩色滤光片(Color-filter，CF)与阵列基板(Array)集成在一起的一种集成技术。采用COA技术的阵列基板具有以下优点：

1)上下基板自对准。在传统结构下，当前后两片玻璃基板上分别加工完成薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)阵列和彩色滤光色阻后，需要将两片玻璃基板上相应的像素位置对准后再封盒。即存在一个对准工艺，对准工艺的准确性将直接影响显示器的质量。采用COA技术后，因TFT阵列以及彩色滤光色阻都在一片玻璃基板上，可以自对准，省却了对准工艺，简化了加工过程，提高了产品质量。

2)降低成本。彩色滤光片在液晶显示器的成本中占有很大的比重，将彩色滤光片集成制备在阵列基板上可以减少彩色滤光片的制造工艺，有效降低成本。另外，彩色滤光片和阵列基板往往由不同厂商生产，在配合上需要消耗人力物力，质量也难以保证。而COA技术可以解决上述问题，降低成本。

3)提高产品性能。采用COA技术可将降低液晶显示屏基板上黑色矩阵(blackmatrix)的线宽，提高液晶显示屏基板的开口率，相应的液晶显示屏基板的透过率也被大大提高。

在液晶显示屏的制造过程中，在阵列基板完成后，需要进行阵列检测和修补来提高良品率。阵列检测和修补是通过测试设备检测后，通过人寻找缺陷或者不良的位置进行修补。

对于采用COA技术的阵列基板，由于在阵列基板上集成有彩色滤光色阻，因此阵列检测和修补只能针对有彩色滤光色阻覆盖的阵列基板进行。但是，彩色滤光色阻会对阵列检测和修补产生干扰，提高缺陷或者不良的位置的发现难度，最终影响阵列基板的良品率。相对于没有采用COA技术的阵列基板，采用COA技术的阵列基板的良品率相对偏低。

因此，为了解决采用COA技术的阵列基板的良品率相对偏低的问题，需要一种新的阵列基板。

发明内容

为了解决采用COA技术的阵列基板的良品率相对偏低的问题，本发明提供了一种阵列基板，所述阵列基板设置有彩色滤光色阻，所述阵列基板包括显示区以及非显示区，其中：

所述彩色滤光色阻完全覆盖所述显示区；

所述彩色滤光色阻不覆盖/部分覆盖所述非显示区。

在一实施例中，所述非显示区包括驱动电路区，其中，所述彩色滤光色阻不覆盖所述驱动电路区。

在一实施例中，所述驱动电路区包括薄膜晶体管电路。

在一实施例中，所述非显示区包括走线区，其中，所述彩色滤光色阻不覆盖所述走线区。

在一实施例中，所述非显示区包括走线区，其中，所述彩色滤光色阻部分覆盖所述走线区。

在一实施例中，所述走线区包括用于传输扫描信号的扫描线以及用于传输数据信号的数据线，所述彩色滤光色阻不覆盖所述扫描线和/或所述数据线。

在一实施例中，所述彩色滤光色阻仅仅覆盖所述显示区。

本发明还提供了一种阵列基板的制造方法，所述方法包含阵列基板构造步骤以及彩色滤光色阻覆盖步骤，其中，所述阵列基板包含显示区以及非显示区，在所述彩色滤光色阻覆盖步骤中：

将彩色滤光色阻完全覆盖所述显示区；

令所述彩色滤光色阻不覆盖/部分覆盖所述非显示区。

与现有技术相比，本发明的阵列基板的结构更加便于进行阵列检测/修补，根据本发明的阵列基板以及阵列基板构造方法可以大大提高集成了彩色滤光片的阵列基板的良品率。

本发明的其它特征或优点将在随后的说明书中阐述。并且，本发明的部分特征或优点将通过说明书而变得显而易见，或者通过实施本发明而被了解。本发明的目的和部分优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的步骤来实现或获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例共同用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是一根据本发明的阵列基板一部分的平面示意图；

图2是一根据本发明的阵列基板一部分的截面示意图。

具体实施方式