[发明专利]一种超低衰减单模光纤有效

专利信息
申请号: 201510359529.7 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN104880766B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 张磊;龙胜亚;朱继红;吴俊;王瑞春 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G02B6/036 分类号: G02B6/036
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司42102 代理人: 胡建平
地址: 430073 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 衰减 单模 光纤
【权利要求书】:

1.一种超低衰减单模光纤,包括有芯层和包层,其特征在于所述芯层的半径R1为3.8~4.5μm,芯层相对折射率差Δ1为-0.05%~0.12%,芯层外从内向外依次包覆内包层,第一下陷内包层,中间内包层,第二下陷内包层,辅助外包层和外包层,所述的光纤的内包层半径R2为8~15μm,相对折射率差Δ2为-0.35%~-0.15%,所述第一下陷内包层的半径R3为13~20μm,相对折射率差Δ3为-0.8%~-0.35%,中间内包层半径R4为16~23μm,相对折射率差Δ4为-0.45%~-0.15%;第二下陷内包层半径R5为20~30μm,相对折射率差Δ5为-0.6%~-0.25%;所述辅助外包层的半径R6为35~50μm,相对折射率差Δ6范围为-0.45%~-0.15%;所述外包层为纯二氧化硅玻璃层。

2.按权利要求1所述的超低衰减单模光纤,其特征在于光纤的芯层为锗和氟共掺的二氧化硅玻璃层,或为掺锗的二氧化硅玻璃层,其中芯层中锗的掺杂的相对折射率贡献量ΔGe为0.02%~0.10%。

3.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于中间内包层半径大于第一下陷内包层半径,且R4-R3≥1.5μm。

4.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤在1310nm波长的模场直径为8.7-9.6μm。

5.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤的成缆截止波长等于或小于1260nm。

6.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤的零色散点在1300-1324nm范围内。

7.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤在波长1550nm处的色散等于或小于18ps/nm*km。

8.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤在波长1310nm处的衰耗等于或小于0.310dB/km;在波长1550nm处的衰耗等于或小于0.180dB/km。

9.按权利要求1或2所述的超低衰减单模光纤,其特征在于所述光纤在波长1550nm处,R15mm弯曲半径弯曲10圈的宏弯损耗等于或小于0.25dB,R10mm弯曲半径弯曲1圈的宏弯损耗等于或小于0.75dB。

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