[发明专利]一种识别液体种类的X射线衍射谱仪与方法有效
申请号: | 201510359144.0 | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN104897705B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 程琳;段泽明;王君玲;李融武;潘秋丽 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 识别 液体 种类 射线 衍射 方法 | ||
一种识别液体种类的X射线衍射谱仪,包括:微焦斑X射线管,多毛细管半透镜A,被测试液体样品,多毛细管半透镜B,X射线探测器,电子学系统和计算机;其中,所述多毛细管半透镜A和多毛细管半透镜B分别位于被测试液体样品的两侧;所述多毛细管半透镜A小直径端对准所述微焦斑X射线管,大直径端对准被测试液体样品;所述多毛细管半透镜B大直径端对准被测试液体样品,小直径端对准X射线探测器;所述X射线探测器与电子学系统电连接,所述电子学系统与所述计算机电连接。上述衍射谱仪实现低功率、低成本、高分辨率的小型X射线衍射谱仪,而且设备简单。
技术领域
本发明涉及一种X射线衍射谱仪,具体涉及一种识别液体种类的X射线衍射谱仪和识别液体的方法。
背景技术
能量色散X射线衍射分析是利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的一种方法。其原理是从X射线源(X射线管等)发射出来的多色X射线束入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合2dsinθ=n入条件下,X射线探测器接受从样品衍射出来的X射线,从测量探测到的X射线的能量和强度判别晶体结构。能量色散X射线衍射分析的优点是X射线探测器在固定的角度进行测量,在测量过程中无需转动样品和X射线探测器,减少由于样品和X射线探测器的转动带来的误差。
常规的能量色散X射线衍射实验装置如图1所示,由X射线光源系统、狭缝准直系统、X射线探测系统三部分组成。一般X射线管1功率为2千瓦;狭缝准直系统2,3由宽度为1mm,高度为15mm的狭缝准直器组成,X射线源与样品、样品与X射线探测器的准直系统尺寸均大于400mm;X射线探测系统由能量色散X射线探测器4和电子学系统组成。
然而,常规的能量色散X射线衍射存在以下缺点:(1)采用2千瓦功率的X射线管,功率大,能量消耗多;(2)设备体积较大,准直系统调节步骤繁琐,耗时长;(3)角分辨率低;(4)设备昂贵。
发明内容
为了解决上述现有技术中存在的缺陷和问题,本发明提出一种识别液体种类的X射线衍射谱仪,可以实现低功率、低成本、高分辨率的小型X射线衍射谱仪,而且设备简单。
本发明是通过以下技术方案实现的:
所述X射线衍射谱仪包括:
微焦斑X射线管,多毛细管半透镜A,被测试液体样品,多毛细管半透镜B,X射线探测器,电子学系统和计算机;其中,所述多毛细管半透镜A和多毛细管半透镜B分别位于被测试液体样品的两侧;所述多毛细管半透镜A小直径端对准所述微焦斑X射线管,大直径端对准被测试液体样品;所述多毛细管半透镜B大直径端对准被测试液体样品,小直径端对准X射线探测器;所述X射线探测器与电子学系统电连接,所述电子学系统与所述计算机电连接。
进一步,所述微焦斑X射线管和多毛细管半透镜A设置于壳体A中,多毛细管半透镜B和X射线探测器设置于壳体B中;所述微焦斑X射线管和X射线探测器与被测试液体样品(3)的准直系统尺寸均小于80mm。
进一步,所述多毛细管半透镜A垂直于被测试液体样品的表面,所述多毛细管半透镜B与被测试液体样品的表面成0°~15°的夹角。
进一步,所述微焦斑X射线管为Oxford 50W的微焦斑X射线管。
进一步,所述X射线探测器为Amptek XR-100SDD X射线探测器。
进一步,所述电子学系统包括前置放大器、主放大器和多道分析器。
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